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一种用于检测弥漫性脑缺血的独立对称型天线 

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申请/专利权人:中国人民解放军陆军军医大学

摘要:一种用于检测弥漫性脑缺血的独立对称型天线,包括两个倒F天线;两个倒F天线绕中心轴对称分布;所述倒F天线包括金属辐射层、介质层、金属接地层;本发明提出一种基于近场耦合原理的检测方法。近场耦合侧重于电磁波与生物体表面和内部组织的耦合效应,其发射信号的振幅偏移与整个大脑的电导率和介电常数有关,具有无创、穿透力强、实时连续监测等优点。本发明通过利用倒F结构,显著性增加了天线的单向辐射能力与增益效果,满足了对脑卒中疾病检测的基本要求。本发明采用对称结构与对称馈电方式,保证了在天线检测频带内对大脑左右两侧进行独立探测的稳定性。本发明天线结构紧凑,制作流程简单,成本低,在医学检测领域具有较大的应用价值。本发明提供的天线能够独立发射两路电磁波分别探测大脑左右两侧,且两路电磁波互不影响进行弥漫性脑缺血的检测。本发明提供的天线可以有效检测弥漫性脑缺血,并能够区分临床脑出血的良好功能。

主权项:1.一种用于检测弥漫性脑缺血的独立对称型天线,其特征在于,包括两个倒F天线;两个倒F天线绕中心轴对称分布;所述倒F天线包括金属辐射层400、介质层、金属接地层300;所述金属辐射层400的结构是由金属板I、金属板II、金属板III组成的U形结构;所述金属接地层300为矩形板;所述金属辐射层400位于金属接地层300下方,且金属辐射层400的金属板I平行于金属接地层300放置。所述金属辐射层400的金属板II位于远离中心轴的一侧,且金属辐射层400的金属板I远离金属板II的一侧与金属接地层300相连;所述金属接地层300上设有馈电端口200,且馈电端口200的位置对应于金属辐射层400的金属板II处;所述馈电端口200用于信号馈入;所述介质层位于金属接地层300和金属辐射层400之间。所述金属辐射层400与金属接地层300连接形成短路,进而产生共振效应,使得倒F天线收发电磁波;两个倒F天线对称分布,进而实现在天线检测频带内对大脑左右两侧的独立探测。

全文数据:

权利要求:

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