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自刷新频率的检测方法 

申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

申请日:2021-01-15

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN114765039B

主分类号:G11C11/406

分类号:G11C11/406

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.07.05#授权;2022.08.05#实质审查的生效;2022.07.19#公开

摘要:本发明实施例提供一种自刷新频率的检测方法,包括:向存储器中至少一条字线内写入数据;对所述存储器进行自刷新操作;在时钟使能信号变为低电平之后,设定所述低电平的持续时长;在所述时钟使能信号的正跳变点对所述存储器进行读取操作;获取多个所述低电平的持续时长对应的多个读取结果;根据多个所述低电平的持续时长和多个所述读取结果得到所述存储器的自刷新频率。本发明实施例有利于提高自刷新频率检测的简便性。

主权项:1.一种自刷新频率的检测方法,其特征在于,包括:向存储器中至少一条字线内写入数据;在时钟使能信号变为低电平之后,对所述存储器进行自刷新操作,并设定所述低电平的持续时长;在所述时钟使能信号的正跳变点对所述存储器进行读取操作;交替进行所述低电平的持续时长的设定和所述读取操作;获取多个所述低电平的持续时长对应的多个读取结果;根据所述读取结果将从读取成功转换为读取失败的读取时刻定义为第一类读取转换时刻,将从读取失败转换为读取成功的读取时刻定义为第二类读取转换时刻;根据相邻两个所述第一类读取转换时刻或者相邻两个所述第二类读取转换时刻得到所述存储器的自刷新频率。

全文数据:

权利要求:

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