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判断摩尔纹的方法、抑制摩尔纹的方法与电路系统 

申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司

申请日:2019-12-30

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN113129389B

主分类号:G06T7/90

分类号:G06T7/90;G06T7/00;G06T1/20

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.07.05#授权;2021.08.03#实质审查的生效;2021.07.16#公开

摘要:一种判断与抑制摩尔纹的方法,以及电路系统,在所述方法中,取得图像中多个像素的亮度值,可于一检测窗口中选取用以判断摩尔纹类型的多个关键像素,针对各像素,通过检测窗口计算多个关键像素与分别对应的多个邻近像素的一摩尔纹响应值,以及利用检测窗口比对其中关键像素与邻近像素的亮度值,将比对结果进行统计,用以判断各像素的亮度特性,之后可以根据摩尔纹响应值与统计的结果确认图像中的摩尔纹位置与类型。接着,对判断为摩尔纹的多个像素进行色彩降噪。

主权项:1.一种判断摩尔纹的方法,包括:取得一图像中多个像素的亮度信息;设有一检测窗口,于所述检测窗口中选取用以判断摩尔纹类型的多个关键像素;针对各像素,通过所述检测窗口,计算所述多个关键像素与分别对应的多个邻近像素的一摩尔纹响应值,所述摩尔纹响应值用以判断所述图像是否具备摩尔纹特征;针对各像素,利用所述检测窗口比对其中所述多个关键像素与分别对应的多个邻近像素的亮度信息,对比对结果进行统计,用以判断各像素的亮度特性;以及根据所述摩尔纹响应值与所述统计的结果,确认所述图像中的摩尔纹位置与类型,其中,在计算所述摩尔纹响应值的步骤中,在所述检测窗口中设有一权重掩码,由所述多个关键像素与对应的所述多个邻近像素分别乘以权重值以计算所述摩尔纹响应值。

全文数据:

权利要求:

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