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一种透射电镜测试用陶瓷样品的微米级薄片制备方法 

申请/专利权人:江苏省沙钢钢铁研究院有限公司;江苏沙钢集团有限公司

申请日:2024-04-02

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN118294231A

主分类号:G01N1/28

分类号:G01N1/28;G01N1/30;G01N23/04

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开

摘要:本发明提供一种透射电镜测试用陶瓷样品的微米级薄片制备方法,涉及脆性材料成型领域;方法包括:将陶瓷薄片置于凝胶液中浸泡,使其表面包覆一层凝胶膜;处理后的陶瓷薄片均匀铺满镶嵌模具底部进行冷镶嵌;使用精密切割机切割夹持后的镶嵌样并按照设定切割参数切割,获得镶嵌薄片;溶解镶嵌薄片内的凝胶液成分,获得目标陶瓷片;目标陶瓷片再切割获得目标直径的陶瓷薄圆片。本发明通过使用凝胶液对待陶瓷样品进行包覆后使用镶嵌料对样品进行镶嵌并切割,避免多孔及易碎陶瓷样品在机械减薄过程中的变形、破损等风险,保证样品能够获得原始状态的观察结果;实现在提升效率的同时达到节约成本的目的。

主权项:1.一种透射电镜测试用陶瓷样品的微米级薄片制备方法,其特征在于,包括如下步骤:1获取若干厚度为2mm±0.5mm的陶瓷薄片置于凝胶液中浸泡,并在浸泡完全后充分干燥;其中,所述陶瓷薄片至少具有一相对水平面;2将干燥后的陶瓷薄片均匀铺满镶嵌模具底部进行冷镶嵌,所述陶瓷薄片的相对水平面贴合所述镶嵌模具的内底面,制得镶嵌样;3定义镶嵌样上陶瓷薄片与镶嵌模具内底面贴合的面为第一面、与第一面相对的面为第二面,则使用精密切割机夹具自镶嵌样靠近所述陶瓷薄片第二面侧进行单面夹持,移动精密切割机的锯片置切割所述镶嵌样的第一设定姿态,调节精密切割机的切割参数;4根据设定切割参数自所述镶嵌样内陶瓷薄片第一面所在侧进行首次切割,在所述镶嵌样上获得一光滑基准面,以所述光滑基准面为基准继续切割获得若干设定厚度的镶嵌薄片;其中,任一所述镶嵌薄片中包含若干块设定厚度的目标陶瓷片;5将所述镶嵌薄片置于有机溶剂中充分溶解凝胶液成分后,分离并清洗干燥后获得若干目标陶瓷片;6将目标陶瓷片进行切割获得目标直径的陶瓷薄圆片,对陶瓷薄圆片直接进行离子减薄。

全文数据:

权利要求:

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