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申请/专利权人：联发科技股份有限公司
申请日：2023-12-21
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118294779A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G01R31/317
优先权：["20230105 US 18/150,587"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：一种检测设备包括基板和晶粒。基板提供第一电压。晶粒邻近基板设置。晶粒包括多个电阻器路径、选择电路、模数转换器Analog‑to‑DigitalConverter，ADC和数字电路。选择电路选择电阻器路径中的一个电阻器路径作为目标路径。目标路径提供第二电压。ADC根据第一电压和第二电压生成数字信号。数字电路处理数字信号。
主权项：1.一种检测设备，包括：基板，所述基板提供第一电压；以及晶粒，所述晶粒邻近所述基板设置，并且包括：多个电阻器路径；选择电路，所述选择电路选择所述多个电阻器路径中的一个电阻器路径作为目标路径，其中，所述目标路径提供第二电压；模数转换器ADC，所述ADC根据所述第一电压和所述第二电压生成数字信号；以及数字电路，所述数字电路处理所述数字信号。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 联发科技股份有限公司 检测设备及检测方法
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