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申请/专利权人：华南理工大学
申请日：2024-04-01
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118294467A
主分类号：G01N21/95
分类号：G01N21/95;G06T7/00;G06T7/62;G01N21/88
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本发明公开一种考虑纹理影响的塑料制品曲面缩痕三维扫描测量方法，所述方法包括：测量获取塑料制品上存在缩痕的表面的三维扫描点云数据；测量塑料制品上无缩痕表面的面粗糙度Sa作为该纹理条件下正常无缩痕表面具有的凹陷深度；划分出拟合的矩形测量区域，并以面粗糙度凹陷深度拟合无缩痕表面；计算缩痕表面点云数据中每个点与拟合的无缩痕表面的距离，进而获得缩痕宽度和深度。本发明提取出缩痕整体形貌，实现对缩痕缺陷的表征与量化，弥补了现有技术难以测量曲面上的缩痕、测量方法不能完整反映整个缩痕全部信息的缺点，消除了塑料制品表面纹理对缩痕宽度和深度测量的影响，为测量评估塑料制品表面缩痕严重程度提供一种简便通用的方法。
主权项：1.一种考虑纹理影响的塑料制品曲面缩痕三维扫描测量方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1：对存在缩痕缺陷的塑料制品表面进行数据采集和融合处理，获得缩痕区域表面点云数据；步骤2：通过3D显微镜测量带纹理塑料制品无缩痕表面的面粗糙度Sa，作为该纹理条件下正常表面具有的凹陷深度；步骤3：将测量得到的点云数据导入三维扫描数据处理软件中，划分出无缩痕曲面的拟合矩形测量区域，测量区域包含13缩痕区域和23正常表面区域，利用三维扫描数据处理软件功能拟合出无缩痕表面；所述13缩痕区域位于中间，所述23正常表面区域位于两侧；步骤4：计算存在缩痕缺陷表面点云数据中的每个点与步骤3拟合出的无缩痕表面的法向距离，并提取出其中深度大于步骤2获得的正常纹理表面凹陷深度的点云数据深度和面积，计算缩痕宽度b；步骤5：逐渐增大提取深度，当按步骤4计算得到的宽度等于缩痕可见的临界值0.5mm时，此时的提取深度即为缩痕深度h。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南理工大学 一种考虑纹理影响的塑料制品曲面缩痕三维扫描测量方法
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