龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
申请/专利权人：安徽中科新源半导体科技有限公司
申请日：2024-04-07
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118295373A
主分类号：G05B23/02
分类号：G05B23/02
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本发明公开了一种对半导体芯片温控系统工况的检测方法，包括如下步骤：S1：在温控系统中设置电流检测模块，用于实时监测芯片工作过程中的电流数值的变化；S2：电流检测模块通过记录芯片工作时电流数值的变化，并建立电流的异常门限值；S3：当芯片正常工作时，电流数值处于电流的安全门限值内；S4：当芯片温度失控时，电流的数值将位于异常门限值；S5：当电流的数值将位于异常门限值，并结合时间门限，通过判断并确定芯片温度是否失控。本发明具有精确度高、安装简单和成本低廉的特点，对保护半导体芯片温度具有重要意义，具有广泛的应用前景。
主权项：1.一种对半导体芯片温控系统工况的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：在温控系统中设置电流检测模块，用于实时监测芯片工作过程中的电流数值的变化。S2：电流检测模块通过记录芯片工作时电流数值的变化，并建立电流的异常门限值。S3：当芯片正常工作时，电流数值处于电流的安全门限值内。S4：当芯片温度失控时，电流的数值将位于异常门限值。S5：当电流的数值将位于异常门限值，并结合时间门限，通过判断并确定芯片温度是否失控。S6：如果判断芯片温度失控，立即触发温控模块进行相应的控制行动，触发告警触发模块、关闭TEC的供电电源。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安徽中科新源半导体科技有限公司 一种对半导体芯片温控系统工况的检测方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号