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一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构 

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申请/专利权人:上海依然半导体测试有限公司

摘要:本实用新型公开了一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构,具体涉及探针领域,包括支撑基板,支撑基板的内部固定连接有活塞筒,活塞筒的内壁滑动连接有活动柱,活动柱的底部固定连接有螺纹滑柱,螺纹滑柱的底部固定连接有环氧树脂,环氧树脂的底部固定连接有探针,螺纹滑柱的外壁通过螺纹连接有螺纹转套,螺纹转套的外壁固定连接有传动齿轮,传动齿轮的一侧啮合有活动齿条。本实用新型通过设置了活动齿条和清洁棉块,芯片测试完成后,活动柱上移带动螺纹滑柱移动,最终使活动杆带动清洁棉块清洁测试完成后的芯片,解决了每次芯片测试完后都需要手动清洁芯片浪费工作人员工作时间的问题。

主权项:1.一种用于功率器件中高压大电流芯片测试的实用结构,包括支撑基板1,其特征在于:所述支撑基板1的内部固定连接有活塞筒2,所述活塞筒2的内壁滑动连接有活动柱3,所述活动柱3的底部固定连接有螺纹滑柱4,所述螺纹滑柱4的底部固定连接有环氧树脂5,所述环氧树脂5的底部固定连接有探针6,所述螺纹滑柱4的外壁通过螺纹连接有螺纹转套7,所述螺纹转套7的外壁固定连接有传动齿轮8,所述传动齿轮8的一侧啮合有活动齿条9,所述活动齿条9的一侧固定连接有活动板10,所述活动板10的一侧固定连接有活动杆11,所述活动杆11的一侧固定连接有清洁棉块12,所述活动齿条9远离活动板10的一侧固定连接有支撑弹簧13。

全文数据:

权利要求:

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