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申请/专利权人：华南师范大学
申请日：2024-03-05
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118258588A
主分类号：G01M11/02
分类号：G01M11/02;G06F17/10
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明涉及一种利用开孔Z扫描系统测量焦深的方法，其包括如下步骤：S1、将双光子样品放在开孔Z扫描系统的物镜焦点上，并通过位移距离z，使得开孔Z扫描系统中的探测器收集到光强信息，并计算获得光透射率T；S2、作出一系列的位移z，获得相应的T值，得到z和T的点的集合并作曲线图，所得曲线图的半高宽通过如下公式计算：其中，测得数值即为半高宽，也即为实验焦深DOF实验；S3、通过测量真实的ω0和λ，并通过公式算出理论焦深DOF理论；S4、核对DOF实验与DOF理论的吻合程度。该方法利用已知的设备，重新搭建测试平台，采用数据计算的方法来代替实际测量中的繁琐步骤，并且经过验证后可以实现理论数值和实际计算数值的高度拟合。
主权项：1.一种利用开孔Z扫描系统测量焦深的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、将双光子样品放在开孔Z扫描系统的物镜焦点上，并通过位移距离z，使得开孔Z扫描系统中的探测器收集到光强信息，并计算获得光透射率T；S2、作出一系列的位移z，获得相应的T值，得到z和T的点的集合并作曲线图，所得曲线图的半高宽通过如下公式计算： 其中，测得数值即为半高宽，也即为实验焦深DOF实验；S3、通过测量真实的ω0和λ，并通过公式算出理论焦深DOF理论；S4、核对DOF实验与DOF理论的吻合程度；其中，Leff是样品的有效长度，Pi指的是入射光功率；ω0是入射光斑的束腰半径，λ是入射光波长，z是位移距离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南师范大学 一种利用开孔Z扫描系统测量焦深的方法
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