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一种舵轴测量方法及系统 

申请/专利权人:贵州航天控制技术有限公司

申请日:2024-03-29

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118243032A

主分类号:G01B21/00

分类号:G01B21/00

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本发明涉及零件测量领域,具体而言,涉及一种舵轴测量方法及系统。方法包括基于多个舵轴在定位组件定位完成,将定位组件在检测组件的基座上定位。基于定位组件在基座上定位完成,驱动检测组件的检测针的第一端测量舵轴D11的第一待测量尺寸。基于舵轴D11的第一待测量尺寸测量完成,依次测量舵轴D1j的第一待测量尺寸。基于第一列的舵轴的第一待测量尺寸测量完成,驱动检测针绕过舵轴D1m至舵轴D1m的另一端测量舵轴D1j的第二待测量尺寸、剩余舵轴的第一待测量尺寸和第二待测量尺寸。这样就解决了如何提高舵轴尺寸检测效率的问题。

主权项:1.一种舵轴测量方法,其特征在于,所述舵轴测量方法包括:步骤S11,基于多个舵轴在定位组件定位完成,将所述定位组件在检测组件的基座上定位;其中,多个所述舵轴沿垂直两方向阵列排布;多个所述舵轴编号为Dij,1≤i≤n,1≤j≤m,2≤n,2≤m;i相同的多个所述舵轴为同一列,同一列的i依次增加;j相同的多个所述舵轴为同一行,同一行的j依次增加;同一列的所述舵轴的同一端面在同一平面;同一行的所述舵轴的轴单元的中心线在同一直线上;所述轴单元设置成圆柱状;步骤S12,基于所述定位组件在所述基座上定位完成,驱动所述检测组件的检测针的第一端测量舵轴D11的第一待测量尺寸;其中,所述第一待测量尺寸包括所述舵轴朝向第一侧一端的待测量尺寸;所述第一侧包括所述舵轴D11的所述轴单元远离舵轴D2j的一端的一侧;步骤S13,基于所述舵轴D11的所述第一待测量尺寸测量完成,依次测量舵轴D1j的所述第一待测量尺寸;其中,j大于1且逐渐增加至m;步骤S14,基于第一列的所述舵轴的所述第一待测量尺寸测量完成,驱动所述检测针绕过舵轴D1m至所述舵轴D1m的另一端测量所述舵轴D1j的第二待测量尺寸、剩余所述舵轴的所述第一待测量尺寸和所述第二待测量尺寸;其中,所述第二待测量尺寸包括相对于所述舵轴的所述第一待测量尺寸一侧的另一侧的一端的待测量尺寸;1≤j≤m。

全文数据:

权利要求:

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