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【发明公布】干涉结构、探测装置和光谱仪_中国科学院上海技术物理研究所_202211634103.4 

申请/专利权人:中国科学院上海技术物理研究所

申请日:2022-12-19

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118225723A

主分类号:G01N21/35

分类号:G01N21/35;G01N21/01

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:本申请涉及光谱分析技术领域,具体涉及一种干涉结构、探测装置和光谱仪,解决了传统傅里叶光谱仪的结构复杂,难以微型化的问题。本申请实施例提供的干涉结构,包括:干涉膜层,干涉膜层包括多个区域,多个区域包括由透明材料制作的透明区域;在与干涉膜层垂直的方向上,多个区域中的至少一个区域的厚度,与多个区域中的除至少一个区域之外的区域的厚度不同。也就是说,本申请通过使干涉膜层包括厚度不同的多个区域,实现了将入射光处理为入射光对应的多束干涉光,不需要传统的干涉结构中的多个光学镜片,因此,本申请的干涉结构的结构简单,便于微型化。

主权项:1.一种干涉结构,其特征在于,应用于光谱仪,所述干涉结构用于接收入射光,并输出所述入射光对应的多束干涉光,所述干涉结构包括:干涉膜层,所述干涉膜层包括多个区域,其中,所述多个区域包括由透明材料制作的透明区域;其中,在与所述干涉膜层垂直的方向上,所述多个区域中的至少一个区域的厚度,与所述多个区域中的除所述至少一个区域之外的区域的厚度不同。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院上海技术物理研究所 干涉结构、探测装置和光谱仪

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