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基于铝钪氮薄膜的crossbar逻辑架构及制备方法 

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申请/专利权人:西安电子科技大学杭州研究院

摘要:本发明提供一种基于铝钪氮薄膜的crossbar逻辑架构及制备方法,包括以下步骤:S1:准备硅基衬底;S2:在硅基衬底上溅射生长底层金属薄膜,并对生长均匀的底层金属薄膜进行光刻刻蚀得到多个独立电极;S3:在底层金属薄膜上溅射生长AlScN薄膜,其中独立电极上表面生长AlScN薄膜形成铁电薄膜电容;S4:在生长均匀的AlScN薄膜上生长顶层金属薄膜,并对生长均匀的顶层金属薄膜进行套刻刻蚀,其中顶层金属薄膜串联铁电薄膜电容,减小铝钪氮薄膜的厚度的同时减小漏电,实现了低漏电、低成本以及可拓展的crossbar逻辑架构,提高了器件性能进而使得器件能够灵活应用于存内计算的广泛领域。

主权项:1.一种基于铝钪氮薄膜的crossbar逻辑架构的制备方法,其特征在于,包括:S1:准备硅基衬底;S2:在硅基衬底上溅射生长底层金属薄膜,并对生长均匀的底层金属薄膜进行光刻刻蚀得到多个独立电极;S3:在底层金属薄膜上溅射生长AlScN薄膜,其中独立电极上表面生长AlScN薄膜形成铁电薄膜电容;S4:在生长均匀的AlScN薄膜上生长顶层金属薄膜,并对生长均匀的顶层金属薄膜进行套刻刻蚀,其中顶层金属薄膜串联铁电薄膜电容。

全文数据:

权利要求:

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