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【发明公布】用于根据双色过程的色散补偿距离测量的大地勘测设备_赫克斯冈技术中心_202311674476.9 

申请/专利权人:赫克斯冈技术中心

申请日:2023-12-07

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN118209968A

主分类号:G01S7/497

分类号:G01S7/497;G01S17/08

优先权:["20221215 EP 22213934.7"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.18#公开

摘要:用于根据双色过程的色散补偿距离测量的大地勘测设备。本发明涉及一种大地勘测设备1,该大地勘测设备包括被配置为借助于双色过程考虑色散补偿的激光距离测量模块。勘测设备1还包括参考通道25和分束装置26,所述分束装置被配置为将测量束的一部分划分到参考通道25。参考通道25包括波长确定组件,该波长确定组件被配置为提供波长测量结果34,该波长测量结果提供要用于双色过程的所测量的两个束分量18、19的波长33,其中,勘测设备1被配置成考虑所测量的波长33以获得色散补偿。

主权项:1.一种大地勘测设备1,所述大地勘测设备1包括:基座2和瞄准部件5,所述瞄准部件5能够相对于所述基座2绕两个对准轴线4,6旋转,角度确定装置,所述角度确定装置被配置为生成角度数据,所述角度数据提供所述瞄准部件5关于所述两个对准轴线4,6的取向,以及激光距离测量模块,所述激光距离测量模块被配置为经由所述瞄准部件5处的束出口发射包括具有不同载波波长的不同的两个束分量18,19的测量束,并且考虑从通过所述两个束分量18,19测量的距离获得的色散补偿,对由所述测量束瞄准的测量点执行色散补偿距离测量35,其特征在于所述大地勘测设备1包括参考通道25和分束装置26,所述分束装置被配置为将所述测量束的一部分划分到所述参考通道,其中,所述参考通道包括波长确定组件,所述波长确定组件被配置为提供波长测量34,所述波长测量提供所测量的所述两个束分量18,19的波长33,以及所述大地勘测设备1被配置为考虑所测量的波长33以获得所述色散补偿。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 赫克斯冈技术中心 用于根据双色过程的色散补偿距离测量的大地勘测设备

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