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申请/专利权人：中国科学院金属研究所
摘要：本发明涉及透射电子显微镜表征石墨类材料面外方向晶粒尺寸领域，具体为一种精确表征石墨类材料面外方向晶粒尺寸的方法。采用聚焦离子束‑扫描电子显微镜加工石墨类材料，制备出垂直于石墨烯片层范德华堆垛方向面外方向厚度均匀的截面透射电镜样品，将样品面外方向与透射电镜样品杆轴向平行放置装样，利用扫描透射电子显微镜环形暗场和明场成像模式同步观察，根据图像衬度不同确定不同取向的晶粒，通过转动样品杆来改变样品取向以增强相邻晶粒的衬度差，进而精确确定石墨类材料面外方向晶粒尺寸，为材料制备、性能优化及分析晶体尺寸对薄膜材料的光学、电学、热学、力学等性能的影响奠定了基础。
主权项：1.一种精确表征石墨类材料面外方向晶粒尺寸的方法，其特征在于，采用聚焦离子束-扫描电子显微镜加工石墨类材料，制备出垂直于石墨烯片层范德华堆垛方向面外方向厚度均匀的截面透射电镜样品，将样品面外方向与透射电镜样品杆轴向平行放置装样，利用扫描透射电子显微镜环形暗场和明场成像模式同步观察，根据图像衬度不同确定不同取向的晶粒，通过转动样品杆来改变样品取向以增强相邻晶粒的衬度差，进而精确确定石墨类材料面外方向晶粒尺寸。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院金属研究所 一种精确表征石墨类材料面外方向晶粒尺寸的方法
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