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申请/专利权人：中国科学院新疆理化技术研究所

摘要：本发明涉及一种评估面密度铝等效法对单能电子电离剂量计算差异的方法，该方法首先在蒙特卡罗仿真软件中建立三层平板模型，第一层设置实际屏蔽材料的类型和面密度、第二层设置为被屏蔽目标硅探测器、第三层设置为5mm厚度的铝材料，然后设置入射电子能量、电子注量和电子入射角度，最后通过蒙特卡罗仿真计算得到单能电子透过该实际材料屏蔽后在硅探测器中的电离吸收剂量。该实际屏蔽材料面密度铝等效分析法也需要建立同样的三层平板模型，只将第一层实际屏蔽材料替换成与其相等面密度的铝材料，其它层不变，再通过蒙特卡罗仿真软件计算该方法得到的单能电子透过铝材料屏蔽后在硅探测器中的电离吸收剂量，最后把两种方法计算出的电离吸收剂量作差，即得到上述两种方法对单能电子电离剂量屏蔽效果的差异。本发明实时性强，方法简单快速，计算结果准确。

主权项：1.一种评估面密度铝等效法对单能电子电离剂量计算差异的方法，其特征在于按下列步骤进行：a、在蒙特卡罗输运软件Geant4中建立三层平板模型；第一层设置实际屏蔽材料的类型和面密度；第二层设置为被屏蔽目标厚度为20μm的硅探测器，第三层设置为5mm厚度的铝材料；b、设置入射电子能量、电子注量和电子入射角度；c、通过蒙特卡罗仿真软件Geant4会通过公式1和公式2分别计算在中间层硅探测器中电子电离剂量De以及轫致辐射光子所导致的电离剂量Dr，De和Dr之和即为单能电子透过该实际材料屏蔽后在硅探测器中的电离吸收剂量D1，该电离吸收剂量即为实际材料计算法得到的电离总剂量D1； d、在蒙特卡罗输运软件Geant4中建立同样的三层平板模型，将步骤a中第一层实际屏蔽材料替换成与其相等面密度的铝材料，第二层和第三层设置不变；e、重复步骤b，然后与步骤c蒙特卡罗仿真软件Geant4通过公式1和公式2计算得到单能电子透过铝材料屏蔽后在硅探测器中的电离吸收剂量D2，该电离吸收剂量即为面密度铝等效分析法得到的电离总剂量D2；f、将步骤c中得到的任意一种实际材料屏蔽后的电离总剂量D1与步骤e中使用面密度铝等效分析法得到的电离总剂量D2作差，即得到实际材料计算法和该材料面密度铝等效分析法对单能电子电离剂量屏蔽效果的差异。

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