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申请/专利权人：苏州凌云光工业智能技术有限公司
申请日：2024-01-17
公开（公告）日：2024-04-30
公开（公告）号：CN117949458A
专利技术分类：..测试瑕疵、缺陷或污点的存在[2006.01]
专利摘要：本申请公开了一种缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法。缺陷检测装置包括支架机构、第一检测机构及第二检测机构。支架机构包括第一支架组件及第二支架组件，所述第二支架组件安装于所述第一支架组件。第一检测机构可活动地设于第一支架组件并朝向待检测件的顶部，第一检测机构用于检测待检测件的顶部的缺陷。第一检测机构包括第一照明组件，第一照明组件用于闪烁照亮待检测件的顶部；第一照明组件包括同轴设置的同轴光源及环形AOI光源。第二检测机构可活动地设于第一支架组件和第二支架组件并朝向待检测件的侧面，第二检测机构用于检测待检测件的侧面的缺陷。同轴设置的同轴光源和环形AOI光源能够对待检测件的顶部打出更多种类的光线，并且通过配置环形AOI光源中的各色光源还能对同一缺陷表现出不同的特征，检验精度较高，不易漏检缺陷。
专利权项：1.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：支架机构，所述支架机构包括第一支架组件及第二支架组件，所述第二支架组件安装于所述第一支架组件；第一检测机构，所述第一检测机构可活动地设于所述第一支架组件并朝向待检测件的顶部，所述第一检测机构用于检测所述待检测件的顶部的缺陷，所述第一检测机构包括第一照明组件，所述第一照明组件用于闪烁照亮所述待检测件的顶部；所述第一照明组件包括同轴设置的同轴光源及环形AOI光源；及第二检测机构，所述第二检测机构可活动地安装于所述第一支架组件和所述第二支架组件并朝向所述待检测件的侧面，所述第二检测机构用于检测所述待检测件的侧面的缺陷。
百度查询： 苏州凌云光工业智能技术有限公司 缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法
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