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申请/专利权人：闪迪技术有限公司
摘要：本申请题为“用于QLCTLC管芯的混合智能验证”。本文公开了用于在具有每单元四位编程模式或X4模式并且还具有每单元三位编程模式或X3模式的存储器系统中的智能验证的技术。X3模式使用基于X4模式的四位格雷码的三位格雷码。存储器系统跳过对X3模式中的状态的验证，同时使用来自X4模式的编程逻辑的相当大部分。在一个X3模式中，存储器系统跳过B状态验证，而具有高于A状态验证电压的Vt的存储器单元的数量低于阈值。在一个X3模式中，存储器系统基于第一测试确定是否跳过对第一组数据状态的验证，并且基于第二测试确定是否跳过对第二组数据状态的验证。
主权项：1.一种装置，包括：一个或多个控制电路，所述一个或多个控制电路被配置为连接到包括非易失性存储器单元的存储器结构，其中所述一个或多个控制电路被配置为：使用具有十六个状态和四页的四位代码对所述存储器结构中的第一组所述存储器单元进行编程；基于所述四页中的三页使用三位代码来对所述存储器结构中的第二组所述存储器单元进行编程，其中所述三位代码包括所述四位代码的所述十六个状态中的八个状态，所述四位代码的未使用页针对所述八个状态包括默认值；以及在编程期间对所述八个状态中的第一组一个或多个状态中的每个特定状态开始在编程-验证循环期间使用所述三位代码进行验证，所述编程-验证循环基于具有高于紧接在阈值电压中的所述特定状态之前的状态的验证电压的阈值电压的存储器单元的数量是否大于预先确定的数量而确定。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 闪迪技术有限公司 用于QLC/TLC管芯的混合智能验证
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