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申请/专利权人：成都芯盟微科技有限公司
摘要：本发明公开一种JESD204B建链可靠性压力测试方法及系统，涉及ADC芯片测试技术领域，解决了JESD204B掉链故障复现难，测试成本高的技术问题。该测试方法包括以下步骤：配置被测ADC芯片的寄存器状态，进行JESD204B建链；上位机控制电源进行上下电操作；FPGA平台监测上电时的JESD204B建链状态，判断是否出现JESD204B建链失败或JESD204B建链后掉链；FPGA平台反馈电平信号到建链测试IO口，示波器监测建链测试IO口；上位机读取示波器，判断是否有触发信号产生。本发明通过上位机自动控制电源启动，实现待测ADC芯片上电及下电，JESD204B掉链测试的自动化程度高。
主权项：1.一种JESD204B建链可靠性压力测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S100：在ADC模拟板上安装被测ADC芯片，将模拟板与FPGA平台电连接，电源为所述ADC模拟板、FPGA平台供电，时钟源为所述ADC模拟板、FPGA平台提供采样时钟，模拟信号发生器为所述被测ADC芯片输入信号源；S200：配置所述被测ADC芯片的寄存器状态，进行JESD204B建链；S300：上位机控制所述电源每隔设定时间进行上下电操作；S400：所述FPGA平台监测所述ADC模拟板上电时的JESD204B建链状态，判断是否出现JESD204B建链失败或JESD204B建链后掉链，若是，执行S500，否则执行S300；S500：所述FPGA平台反馈一个电平信号到建链测试IO口，示波器监测所述建链测试IO口；S600：上位机实时读取示波器的触发寄存器状态，判断是否有所述电平信号对应的触发信号产生，如是，执行S700，否则执行S300；S700：所述上位机控制电源停止上电操作；所述S300步骤中，所述设定时间为3S，上电时间、下电时间均为1.5S。
全文数据：
权利要求：
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