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龙图腾网恭喜株式会社理学申请的专利荧光X射线分析装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112378938B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-01-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011009411.9，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权荧光X射线分析装置是由山田康治郎;原真也;堂井真设计研发完成，并于2016-07-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本荧光X射线分析装置在说明书摘要公布了：测定线评价机构23根据针对薄膜而指定的组成和或厚度，对于已指定的全部的测定线，通过理论计算而计算出推算测定强度，以规定量改变仅仅一个测定线的推算测定强度，针对每个变化的测定线，通过基本参数法，求出推算测定强度变化后的薄膜的组成和或厚度的定量值，根据该定量值和已指定的组成和或厚度，进行定量误差的推算和或分析的可否的判断。

本发明授权荧光X射线分析装置在权利要求书中公布了：1.一种荧光X射线分析装置，在该荧光X射线分析装置中，对试样照射一次X射线，根据所产生的二次X射线的测定强度，通过基本参数法，求出下述薄膜的组成和厚度的定量值，该试样分别为：通过将多层的薄膜以无基板的方式形成、通过将单层的薄膜形成于基板上的方式形成、或通过将多层的薄膜形成于基板上的方式形成，该荧光X射线分析装置包括：测定线评价机构，该测定线评价机构针对作为应测定强度的二次X射线的测定线的分析，进行定量误差的推算和或分析的可否的判断；显示控制机构，该显示控制机构将通过该测定线评价机构而获得的定量误差和或分析的可否显示于显示器中，上述测定线评价机构根据针对上述薄膜而指定的组成和厚度，针对已指定的全部的测定线，通过理论强度计算和装置灵敏度计算推算测定强度，根据以规定量改变该推算测定强度的组中的仅仅一根测定线的推算测定强度的推算测定强度的组，以变化改变推算测定强度的测定线的方式，反复进行通过基本参数法求出推算测定强度变化后的上述薄膜的组成和厚度的定量值的步骤，根据已求出的定量值和上述已指定的组成和厚度，进行上述定量误差的推算和或分析的可否的判断。

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