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龙图腾网恭喜高铭科维科技无锡有限公司申请的专利一种激光轮廓测量仪的标定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115218822B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210839900.X，技术领域涉及：G01B11/25；该发明授权一种激光轮廓测量仪的标定方法是由刘华;陈远;郭洽鑫设计研发完成，并于2022-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种激光轮廓测量仪的标定方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种大视场激光轮廓测量仪的标定方法，包括将线激光轮廓测量仪系统模型，参数化为一个多项式映射函数B＝AX，将激光光平面或曲面在图像平面上的像素坐标A，通过多项式系数X映射到相机坐标系下的空间坐标B。通过对系统的标定获取A和B的观测值，从而求解得到X，实现激光轮廓测量仪的标定。本方法不涉及激光光平面方程的标定，因此不会受激光平面畸变影响，适用于大视场下有畸变和无畸变的线激光系统的精确标定。

本发明授权一种激光轮廓测量仪的标定方法在权利要求书中公布了：1.一种激光轮廓测量仪的标定方法，其特征在于，包括： S1、将线激光轮廓测量仪系统模型参数化为一个多项式映射函数B＝AX，将激光光平面或曲面在图像平面上的像素坐标A通过多项式系数X映射到相机坐标系下的空间坐标B； S2、通过对系统的标定获取A和B的观测值； S3、求解得到X，实现激光轮廓测量仪的标定； 所述S1包括： S11、建立激光光平面或曲面在图像平面上的像素坐标u，v与相机坐标系下的空间坐标xyz的映射函数模型xyz＝fu，v； S12、将映射函数模型fu，v参数化为一个K阶线性多项式： x＝a1uk+a2vk+a3uk-1v+a4uvk-1+...+an-2u+an-1v+an y＝b1uk+b2vk+b3uk-1v+b4uvk-1+...+bn-2u+bn-1v+bn z＝c1uk+c2vk+c3uk-1v+c4uvk-1+...+cn-2u+cn-1v+cn s.t.u，v∈Pπl； 其中，Pπl是激光光平面或曲面在相机像平面上的投影； S13、令B＝[x，y，z]，A＝[ukvkuk-1vuvk-1…uv]， 将上述K阶线性多项式改写为B＝AX； 所述S2包括： S21、将标定板摆放N个不同位姿，拍摄N个标定板图像； S22、每拍摄一张标定板图像后，保持标定板当前位置不变，将激光线清晰地打在标定板上，再拍摄一张激光标定板图像，共拍摄N个激光标定板图像； S23、根据N个标定板图像，计算相机的内参M、镜头畸变系数D和标定板到相机的外参[R，7]； S24、根据相机内参M和镜头畸变系数D，对N个激光标定板图像去畸变； S25、对去畸变后的激光标定板图像提取激光线的像素坐标ui，vi，将ui，vi变换成[ukvkuk-1vuvk-1…uv]的形式，即获得了A的观测值； S26、根据标定过程中得到的标定板平面与相机成像平面的单应矩阵H，计算激光线的齐次坐标ui，vi，1在世界坐标系下的坐标xw，yw，zw，xw，yw，zw＝Hui，vi，1T； S27、根据标定过程中得到的标定板坐标到相机坐标的外参变换矩阵[R，7]，将xw，yw，zw转换到相机坐标系下的坐标xc，yc，zc： xc，yc，zc＝Rxw，yw，zw+T，即获得了B的观测值。

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