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龙图腾网恭喜浙江沃乐科技股份有限公司;江西沃氟化工科技有限公司申请的专利一种泛半导体产业含氟污泥的快速检测设备和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119688754B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510213865.4，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种泛半导体产业含氟污泥的快速检测设备和方法是由陆慧锋;鲁兰帅;蔡洋;吴新;戴佳亮设计研发完成，并于2025-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种泛半导体产业含氟污泥的快速检测设备和方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种泛半导体产业含氟污泥的快速检测设备和方法。该设备包括壳体、样品台和检测系统，样品台包括承载组件和第二驱动件；承载组件活动连接于壳体内，且承载组件包括具有承载腔室的第一承载件和具有第一安装腔室的第二承载件；第一承载件通过第一驱动件安装于第一安装腔室内，第一驱动件用于带动第一承载件绕其第一中心轴旋转；第一中心轴沿垂直于第二承载件的方向延伸；第二驱动件设置于第二承载件，第二驱动件的输出端与第一驱动件连接；第二驱动件用于带动第一承载件相对于第一中心轴在1°～5°内进行偏心运动；检测系统设置于壳体内，用于检测待检测样品的轻元素含量。本申请能够对轻元素进行定量检测，且具有较高的检测灵敏度。

本发明授权一种泛半导体产业含氟污泥的快速检测设备和方法在权利要求书中公布了：1.一种泛半导体产业含氟污泥的快速检测设备，其特征在于，包括：壳体；样品台，所述样品台包括承载组件和第二驱动件；所述承载组件活动连接于所述壳体内，且所述承载组件包括第一承载件和具有第一安装腔室的第二承载件；所述第一承载件包括承载腔室，所述承载腔室用于固定待检测样品；其中，所述第一承载件通过第一驱动件安装于所述第一安装腔室内，所述第一驱动件用于带动所述第一承载件绕其第一中心轴旋转；所述第一中心轴沿垂直于所述第二承载件的方向延伸；所述第二驱动件设置于所述第二承载件，且所述第二驱动件的输出端与所述第一驱动件连接；所述第二驱动件用于带动所述第一承载件相对于所述第一中心轴在预设范围内进行偏心旋转；其中，所述预设范围为1°～5°，所述第一承载件进行偏心旋转的旋转速率为0.5转秒～1.5转秒；检测系统，所述检测系统设置于所述壳体内，用于检测所述待检测样品的轻元素含量；所述检测系统包括光路组件、光源和探测器，所述光路组件设置于所述壳体内；所述光路组件包括间隔排布的第一光学元件和第二光学元件；在平行于所述壳体的截面上，所述样品台的正投影位于所述第一光学元件的正投影和所述第二光学元件的正投影的连线的一侧；其中，所述第一光学元件和所述第二光学元件均包括弯晶支架以及转动连接在所述弯晶支架上的第一弯晶和第二弯晶，所述第一弯晶的朝向和所述第二弯晶的朝向相反，且材质不同；所述第一弯晶用于检测所述含氟污泥中的氟元素，所述第二弯晶用于检测所述含氟污泥中钙元素；所述第一弯晶和所述第二弯晶均包括第一曲率半径和第二曲率半径，所述第一曲率半径和所述第二曲率半径不同；所述光源、所述第一光学元件、所述样品台的中心处于半径为R的圆上，所述探测器、所述第二光学元件和所述样品台的中心处于半径R的另一圆上，所述光源形成的X射线以入射角θ经所述第一光学元件折射至所述样品台，激发的X射线荧光以角度θ射入所述第二光学元件后折射至所述探测器；所述第一曲率半径为R，所述第二曲率半径r为所述第一光学元件以所述光源至所述样品台连线的中心为圆心，旋转得到的圆半径，所述第一曲率半径R和所述第二曲率半径r满足；所述样品台还包括旋转装置，所述旋转装置与所述承载组件连接，用于带动所述承载组件沿第二中心轴旋转；所述第二中心轴与所述第一中心轴相互垂直。

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