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龙图腾网恭喜苏州德伽存储科技有限公司申请的专利一种固态硬盘定制化测试方法、系统、电子设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119889418B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510376619.0，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种固态硬盘定制化测试方法、系统、电子设备及介质是由王骁设计研发完成，并于2025-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种固态硬盘定制化测试方法、系统、电子设备及介质在说明书摘要公布了：一种固态硬盘定制化测试方法、系统、电子设备及介质，涉及数据处理技术领域。该方法包括：获取样本硬盘的状态数据，状态数据包括坏块数量、擦写次数以及读写延迟；根据擦写次数和读写延迟生成循环测试指令，并基于坏块数量确定循环测试指令的执行时长；将循环测试指令写入待测固态硬盘组中多个固态硬盘的非坏块区域并按照执行时长分别进行数据读写操作；获取各固态硬盘在数据读写操作后的响应延迟，并基于各响应延迟和读写延迟，计算各固态硬盘对应的延迟增长率；将任一延迟增长率大于增长率阈值的固态硬盘确定为异常硬盘。实施本申请提供的技术方案，达到了提高固态硬盘测试的准确性的效果。

本发明授权一种固态硬盘定制化测试方法、系统、电子设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘定制化测试方法，其特征在于，包括：获取样本硬盘的状态数据，所述状态数据包括坏块数量、擦写次数以及读写延迟；根据所述擦写次数和所述读写延迟生成循环测试指令，并基于所述坏块数量确定所述循环测试指令的执行时长；将所述循环测试指令写入待测固态硬盘组中多个固态硬盘的非坏块区域并按照所述执行时长分别进行数据读写操作；获取各所述固态硬盘在所述数据读写操作后的响应延迟，并基于各所述响应延迟和所述读写延迟，计算各所述固态硬盘对应的延迟增长率；将任一所述延迟增长率大于增长率阈值的固态硬盘确定为异常硬盘；所述根据所述擦写次数和所述读写延迟生成循环测试指令，包括：获取预设擦写次数范围和预设延迟范围，所述预设擦写次数范围和所述预设延迟范围分别包括多个子区间；根据所述样本硬盘的擦写次数在所述预设擦写次数范围中所处的子区间，确定对应的写指令数量，并根据所述样本硬盘的读写延迟在所述预设延迟范围中所处的子区间，确定对应的写指令时间间隔；将所述写指令数量和所述写指令时间间隔作为指令参数生成对应的循环测试指令；所述基于所述坏块数量确定所述循环测试指令的执行时长，包括：获取基准执行时长；根据所述坏块数量，计算所述样本硬盘的可用空间占比；基于预设衰减系数和所述可用空间占比，确定坏块衰减因子；将所述基准执行时长与所述坏块衰减因子的乘积作为所述循环测试指令的执行时长。

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