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龙图腾网恭喜上海市计量测试技术研究院申请的专利小漏率正压漏孔校准方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112113707B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011095026.0，技术领域涉及：G01M3/00；该发明授权小漏率正压漏孔校准方法及装置是由刘贝贝;许红;张忠立;王灿;张斯宏;金愿设计研发完成，并于2020-10-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本小漏率正压漏孔校准方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种小漏率正压漏孔校准方法，设置一校准室和与校准室同等材质的参考室，二者由差压薄膜规和截止阀隔开；气体量Q﹒t正比于差压薄膜规读数P，可得出其中Q代表漏率，t代表时间，k＝P0·x·AP2‑P1；在校准室设置一活塞，通过先测量推进活塞引起的压差，等效于漏孔流入的气体量，计算出体积系数k，其中：A为活塞截面积；x为活塞移动距离；P1、P2为活塞移动前后薄膜计示值；再测量由被检漏孔流入校准室引起的压力P随时间t的变化率，从而得出被检漏孔的漏率。

本发明授权小漏率正压漏孔校准方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种小漏率正压漏孔校准方法，其特征在于:设置一校准室和与校准室同等材质的参考室，二者由差压薄膜规和截止阀隔开；所述参考室的管路上设置一可排气的放空阀6，所述校准室的管路上设置一测试阀14，校准室通过所述测试阀14与漏孔连通；气体量Q﹒t正比于差压薄膜规读数P；可得出其中Q代表漏率,t代表时间；在校准室设置一活塞10，通过先测量推进活塞10引起的压差，等效于漏孔流入的气体量，计算出体积系数k；k＝p0·x·A△P；其中：A为活塞截面积；x为活塞移动距离；△P为活塞推进体积引起的压力变化量；再测量由被检漏孔流入校准室引起的压力P随时间t的变化率，从而得出被检漏孔的漏率；所述校准室与参考室均设置于一密闭空间内，对所述密闭空间实施温控；所述温控采用PID控制系统2对半导体制冷恒温控制系统实施温控；将被校漏孔通过测试阀与校准室相连，读取差压薄膜规示值P1，气动控制活塞推进一定的距离△L，读取差压薄膜规示值P2，则压力变化量△P1＝P2-P1；将活塞退回原位置，读取差压薄膜规示值P3，△P2＝P3-P1，则由活塞推进体积引起的压力变化量△P＝△P1-12△P2；如此重复测量N次，取N次测量平均值。

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