恭喜瑞昱半导体股份有限公司林盛霖获国家专利权
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龙图腾网恭喜瑞昱半导体股份有限公司申请的专利存储器测试电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114639432B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011478692.2，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权存储器测试电路是由林盛霖;郭俊仪;林士杰设计研发完成，并于2020-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器测试电路在说明书摘要公布了：本发明公开一种测试电路，用于测试存储器，该存储器的输入端耦合到寄存器，且该寄存器耦合到逻辑电路。该测试电路包含第一测试寄存器群组、第二测试寄存器群组、第一多工器以及多个第二多工器。第一测试寄存器群组包含至少一个测试寄存器。第二测试寄存器群组包含至少一个测试寄存器。第一多工器耦合于该第一测试寄存器群组与该寄存器之间。第二多工器耦合于该第二测试寄存器群组与该寄存器之间。
本发明授权存储器测试电路在权利要求书中公布了：1.一种测试电路，用于测试存储器，所述存储器的输入端耦合到寄存器，且所述寄存器耦合到逻辑电路，所述测试电路包含：第一测试寄存器群组，包含至少一个测试寄存器；第二测试寄存器群组，包含至少一个测试寄存器；第一多工器，耦合于所述第一测试寄存器群组与所述寄存器之间；以及多个第二多工器，耦合于所述第二测试寄存器群组与所述寄存器之间；其中所述第一测试寄存器群组包含按顺序电连接的第一测试寄存器及第二测试寄存器，所述测试电路还包含：反相器，耦合于所述第一测试寄存器的输入端与所述第二测试寄存器的输出端之间。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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