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龙图腾网恭喜上海应用技术大学申请的专利一种X射线光束互相干函数测量装置与探测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115356764B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210862635.7，技术领域涉及：G01T1/29；该发明授权一种X射线光束互相干函数测量装置与探测方法是由胡靖伟;张睿;杨福桂;李志宏设计研发完成，并于2022-07-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种X射线光束互相干函数测量装置与探测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种X射线光束互相干函数测量装置与探测方法，用双晶单色器对入射宽光谱带宽的白光X射线单色化；用X射线空间调制器对电控空间调制X射线波前；用晶体滤除不满足布拉格衍射条件的光束，以形成双缝效果；用聚焦光学元件在焦平面上形成杨氏干涉条纹，并用图像探测器采集干涉条纹的强度分布；数据采集‑处理系统控制数据采集与双缝的扫描同步，即实现顺序扫描测量，并反通过测量数据反解出干涉条纹的对比度和相位，给出完整的光束相干性信息。解决了互相干函数测量快速动态测量的问题。

本发明授权一种X射线光束互相干函数测量装置与探测方法在权利要求书中公布了：1.一种X射线光束互相干函数测量装置，其特征在于，依次包括双晶单色器、两个调制器、聚焦光学元件、图像探测器和数据采集-处理系统，白光平行入射双晶单色器，双晶单色器对入射宽光谱带宽的白光X射线单色化后出射，出射的单色光进入可控时序调制狭缝的第一调制器，第一调制器出射调制光进入第二调制器，经过第二调制器滤除不满足布拉格衍射条件的光束，再进入聚焦光学元件聚焦，在焦平面上形成杨氏双缝干涉条纹，图像探测器采集干涉条纹的强度分布送数据采集-处理系统，数据采集-处理系统控制扫描测量并处理采集数据获得测量数据；所述第一调制器为X射线空间调制器，由主动变形反射镜构成，主动变形反射镜的实现形式包括两类，第一类包括反射层和基底两层，在反射层和基底两层中间设有用于电控的加热电极，加热电极由数组平行阵列排列的电阻带构成，每条电阻带两端为电极，选择电阻带通电对对应的反射层区域进行加热，反射层以形成不同的区域变形；第二类，由多个阵列排列的压电陶瓷单元与X射线反射镜粘结而成，时序改变压电陶瓷单元上加载电压，利用压电效应，产生反射镜的区域变形。

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