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龙图腾网恭喜北京航空航天大学申请的专利一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115629342B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210664837.0，技术领域涉及：G01R33/02；该发明授权一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法是由范文峰;李任杰;魏瑶;全伟设计研发完成，并于2022-06-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法在说明书摘要公布了：一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，以SERF惯性测量系统为研究对象，将检测光稳光强后残留的误差定位至检测光的非理想线偏振上，建立了一种实时测量检测光抽运效应的方法。该方法以Bloch方程的稳态解为基础，通过不同检测光强度下从幅频响应和阶跃调制实验中获得的偏振信息，结合实时的输出偏置，得到用于评估功率、频率和偏振度对检测光抽运效应的综合影响的乘积项。解决了过去未对检测光引起的抽运效应进行定量评估的问题，为从根本上抑制检测光抽运效应对系统的不利影响提供了理论基础，同时也可以改变过去因检测功率小引起的信噪比低的问题。

本发明授权一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法在权利要求书中公布了：1.一种SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，将SERF惯性测量系统碱金属气室加热到工作温度，待激光将原子极化到稳态时，采用磁场交叉调制补偿技术补偿磁场，此时惯性测量系统工作在“惯性测量系统补偿点”，测试记录惯性测量系统稳态偏置信号Vout，转动惯性测量系统获得自旋惯性测量装置的刻度系数K；步骤2，通过幅频响应实验：在X轴施加一系列不同频率的正弦信号，记录系统输出的峰峰值，并进行拟合；以及阶跃调制实验：不断改变Z轴线圈的电压以改变系统在Z轴受到的磁场，获得系统输出的值，并进行拟合，通过上述实验拟合获得惯性测量系统Z轴光频移Lz、电子弛豫率和X轴光频移Lx；步骤3，改变Z轴磁场偏置Bz，继续进行幅频响应实验，获得不同磁场偏置下的电子共振峰ωe，将磁场偏置与电子共振峰拟合，获得减慢因子Q，再通过减慢因子得到电子极化率从而获得该检测光功率下Rmsm的测量值，此处的Rmsm是一个乘积项，其中Rm为检测光的抽运速率，sm为检测光的圆偏振度；步骤4，在不同检测光功率下，重复步骤1至步骤3，获得不同检测光功率下的Rmsm；步骤5，采用线性最小二乘拟合法，得到Rmsm与检测光功率I0之间的线性关系:Rmsm＝KII0+b,b为常量，KI为斜率，根据KI的大小即可判断目前SERF惯性测量系统中检测光抽运效应的大小。

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