恭喜武汉芯必达微电子有限公司付惠兰获国家专利权
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龙图腾网恭喜武汉芯必达微电子有限公司申请的专利一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117852455B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311726319.8，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统是由付惠兰设计研发完成，并于2023-12-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统，方法包括：在Emulation阶段，先通过设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数字逻辑验证；再通过外接ADC芯片对待测ADC模块进行通路验证；在Verify阶段，通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。本发明通过在Emulation阶段引入数字逻辑验证和通路验证，来减少验证风险、减小验证成本，并通过在Verify阶段控制ADC模块的模拟输入电压实现自动化验证，来提高验证效率。
本发明授权一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，包括：在Emulation阶段，先通过设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数字逻辑验证；再通过外接ADC芯片对待测ADC模块进行通路验证；所述特殊内存区域设置于芯片的存储区内，在验证时激活，在验证结束后擦除；所述特殊内存区域用于存放ADC输入数据，通过上位机不断更改特殊内存区域中的输入数据，来完成数字逻辑验证，在数字逻辑验证过程中，通过对比ADC输入数据与ADC数字转换后的数据，来判断ADC转换相关逻辑是否异常；存放的ADC输入数据经过硬件平均、校准和偏移，偏移处理后的数据为ADC模块采样到的数据，使用上位机将处理后的数据读出，并与写入特殊内存区域的输入数据进行对比，实现在Emulation阶段对ADC数字逻辑自动化验证；在Verify阶段，通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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