恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司赖俊生获国家专利权
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龙图腾网恭喜皇虎测试科技(深圳)有限公司申请的专利芯片的加速老化和质量检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119575146B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-06发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510134615.1,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权芯片的加速老化和质量检测方法是由赖俊生设计研发完成,并于2025-02-07向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片的加速老化和质量检测方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种芯片的加速老化和质量检测方法,其中加速老化方法包括以下步骤:S1:采用第一超声波对待老化的芯片进行清洗;S2:在预设温度下,采用预设压力的第二超声波对所述芯片施加压力,促进所述芯片的老化。本发明通过超声波的压力对芯片进行损伤实验,可有效损伤芯片外部结构和元件内部,达到加速芯片老化的目的,提高了芯片质量检测实验的效率。
本发明授权芯片的加速老化和质量检测方法在权利要求书中公布了:1.一种芯片的加速老化方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:采用第一超声波对待老化的芯片进行清洗;S2:在预设温度下,采用预设压力的第二超声波对所述芯片施加压力,促进所述芯片的老化;所述预设压力包括至少3个压力等级,第一压力等级、第二压力等级、第三压力等级的第二超声波施加的压力逐渐增强;所述预设温度包括25℃±5℃、或30℃以上、或遵循JEDEC标准的温度循环、或变化的温度;在所述步骤S2之前还包括,将所述芯片分成不同的区域;所述步骤S2中,采用预设压力的第二超声波对所述芯片施加压力,包括:每个所述区域选用不同压力等级的超声波进行施加压力;所述将所述芯片分成不同的区域,包括:将所述芯片的电容阵列部分划分成电容区域,将所述芯片的周边电路部分划分成电路区域。
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