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龙图腾网恭喜中国科学院国家天文台申请的专利介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114646812B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210134955.0，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质是由王瑞刚;苏彦;李春来;张宗煜;刘晨迪;洪天晟;戴舜;刘书宁;杜维设计研发完成，并于2022-02-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质。该方法包括基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，其中，雷达数据包括对应于不同采样点的多个第一分数据；针对每个采样点，对与采样点对应的目标雷达数据中的第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据；根据多个目标分数据，得到第一目标数据；对第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据；对校正后的第一目标数据进行单位转换，得到第二目标数据；根据第二目标数据的幅度的变化曲线，得到变化曲线的斜率；以及根据斜率和雷达方程，得到介质的损耗角正切参数值。

本发明授权介质的损耗角正切的确定方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种介质的损耗角正切的确定方法，包括：基于预设筛选规则，对从阵列雷达获取得到的多个雷达数据进行筛选，得到多个目标雷达数据，其中，所述雷达数据包括对应于不同采样点的多个第一分数据；针对每个所述采样点，对与所述采样点对应的所述目标雷达数据中的所述第一分数据进行平均平方和处理，得到目标分数据；根据多个所述目标分数据，得到第一目标数据，包括：在目标雷达数据的数量为多个的情况下，在采样点为t1时，将每个目标雷达数据中t1下的第一分数据进行平方和处理，从而得到多个第二分数据，对多个第二分数据进行平均处理得到一个目标分数据，根据多个目标分数据得到第一目标数据；对所述第一目标数据进行校正处理，得到校正后的第一目标数据；对所述校正后的第一目标数据进行单位转换，得到第二目标数据；根据所述第二目标数据的幅度的变化曲线，得到所述变化曲线的斜率；以及根据所述斜率和雷达方程，得到所述介质的损耗角正切参数值；其中，所述斜率与损耗角正切参数之间的关系如以下公式所示： 其中，表征斜率，所述斜率表征衰减系数，表征损耗角正切参数，表征阵列雷达的角频率、表征阵列雷达的磁导率，表征介质的介电常数。

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