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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利光轴垂直性检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115164783B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211018635.5，技术领域涉及：G01B11/26；该发明授权光轴垂直性检测方法是由韩岩;刘玉生;李雪雷;王志乾;李建荣;马文家;王旻设计研发完成，并于2022-08-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本光轴垂直性检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种光轴垂直性检测方法，主要采用自准直光管、立方棱镜和折光镜解决了双光轴系统的光轴垂直性检测的问题，主要包括以下步骤：第一步、第一自准直光管和第二自准直光管的垂直对准，将第一自准直光管和第二自准直光管分别与立方棱镜的相互垂直的面进行自准直；第二步、光轴的垂直性检测，在第二自准直光管的入光光路方向上放置折光镜，将第二光轴对准折光镜的入光面，将第二自准直光管的进光口对准折光镜的出光面，记录读数并计算误差。本发明所用设备均为光学检验中常用的器件，精度高且成本低、易于调整，本发明的光轴垂直性检测方法操作简单、精准度高、且适用于各种复杂环境。

本发明授权光轴垂直性检测方法在权利要求书中公布了：1.一种光轴垂直性检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、第一自准直光管和第二自准直光管的垂直对准；步骤S11、将立方棱镜调至水平状态，所述立方棱镜相邻面互相垂直；步骤S12、将所述第一自准直光管和所述第二自准直光管分别与所述立方棱镜的相互垂直的两个面进行自准直，并记录所述第一自准直光管的基准读数，包括：第一水平基准读数α1和第一高低基准读数β1；记录所述第二自准直光管的基准读数，包括：第二水平基准读数α2和第二高低基准读数β2；S2、光轴的垂直性检测；步骤S21、撤去所述立方棱镜，使所述第一自准直光管与第一光轴准直，记录此时所述第一自准直光管的测量读数，包括：第一水平测量读数α'1和第一高低测量读数β'1；步骤S22、在所述第二自准直光管的入光光路方向上放置折光镜，所述折光镜用于将入射光平行折返180°；步骤S23、将第二光轴对准所述折光镜的入光面，将所述第二自准直光管的进光口对准所述折光镜的出光面，使所述第二自准直光管与第二光轴准直，并记录此时所述第二自准直光管的测量读数，包括：第二水平测量读数α'2和第二高低测量读数β'2；步骤S24、计算所述第一光轴与所述第二光轴的垂直误差△α如下式：△α＝α'1-α1-α'2-α2；计算所述第一光轴和所述第二光轴与水平面的平行误差分别如下式：△β1＝β'1-β1；△β2＝β'2-β2。

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