恭喜光颉科技股份有限公司郭明杰获国家专利权
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龙图腾网恭喜光颉科技股份有限公司申请的专利电阻元件金属层杂质的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115032236B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110239084.4，技术领域涉及：G01N27/04；该发明授权电阻元件金属层杂质的检测方法是由郭明杰;卢契佑设计研发完成，并于2021-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本电阻元件金属层杂质的检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种电阻元件金属层杂质的检测方法，在电阻元件金属层上施加脉冲电压以产生测试谐振波，将测试谐振波与标准谐振波进行比较可以用来判断金属层是否包含杂质。
本发明授权电阻元件金属层杂质的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种电阻元件金属层杂质的检测方法，其特征在于，包含：施加3KV～6KV的一脉冲电压于一无杂质电阻元件金属层，以建立一标准谐振波；施加该脉冲电压于一测试电阻元件金属层，以取得一测试谐振波；以及比对该标准谐振波与该测试谐振波：若比例超过一设定值，则判断该测试电阻元件金属层的杂质成份过高；或者若比例未超过该设定值，则判断该测试电阻元件金属层的杂质成份符合标准；该设定值为第一周期的该测试谐振波的振幅小于该第一周期的该标准谐振波的振幅达10％以上，或者该第一周期的该测试谐振波的波形面积小于该第一周期的该标准谐振波的波形面积达1％以上。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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