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龙图腾网恭喜奥比中光科技集团股份有限公司申请的专利一种图像的校正方法及及屏下系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115131215B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110315005.3，技术领域涉及：H04N23/81；该发明授权一种图像的校正方法及及屏下系统是由兰富洋;杨鹏;王兆民;黄源浩;肖振中设计研发完成，并于2021-03-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种图像的校正方法及及屏下系统在说明书摘要公布了：本申请适用于图像处理的技术领域，提供一种干涉条纹的校正方法及屏下系统，所述校正方法包括：获取不同拍摄距离的干涉条纹图像；获取待校正图像，并计算所述待校正图像中每个待校正像素点的深度值；在所述不同拍摄距离的干涉条纹图像中，选择所述每个待校正像素点的深度值对应的干涉条纹图像，作为所述每个待校正像素点对应的目标干涉条纹图像；提取所述目标干涉条纹图像中目标坐标位置的第一像素值；根据所述每个待校正像素点对应的第一像素值，校正所述每个待校正像素点的第二像素值，得到校正后的图像。上述方案，通过针对逐个待校正像素分别进行校正的方式，减弱了干涉条纹导致采集的图像质量较差的问题。

本发明授权一种图像的校正方法及及屏下系统在权利要求书中公布了：1.一种干涉条纹的校正方法，其特征在于，所述校正方法，包括：获取不同拍摄距离的干涉条纹图像；所述干涉条纹图像是指照明光源透过显示屏照射在目标平面上形成干涉条纹，并由采集模组采集而得的图像；所述干涉条纹图像用于反映干涉条纹在不同坐标位置的第一像素值；获取待校正图像，并计算所述待校正图像中每个待校正像素点的深度值；在所述不同拍摄距离的干涉条纹图像中，选择所述每个待校正像素点的深度值对应的干涉条纹图像，作为所述每个待校正像素点对应的目标干涉条纹图像；提取所述目标干涉条纹图像中目标坐标位置的第一像素值；所述目标坐标位置是指所述目标干涉条纹图像对应的待校正像素点在所述待校正图像中所处的坐标位置；根据所述每个待校正像素点对应的第一像素值，校正所述每个待校正像素点的第二像素值，得到校正后的图像，包括：获取所有所述第一像素值中的最大第一像素值；将每个所述第一像素值除以所述最大第一像素值，得到所述每个待校正像素点对应的第一校正参数；针对所述每个待校正像素点分别执行如下步骤，得到校正后的图像：若待校正像素点对应目标干涉条纹图像的拍摄距离与该待校正像素点的深度值不相等，则将所述第一校正参数代入第一预设公式，得到第二校正参数；所述第一预设公式如下： 其中，Ia表示所述第一校正参数，Ib表示所述第二校正参数，La表示待校正像素点对应目标干涉条纹图像的拍摄距离，Lb表示待校正像素点的深度值；将该待校正像素点的第二像素值除以所述第二校正参数，得到校正后的图像；若待校正像素点对应目标干涉条纹图像的拍摄距离与该待校正像素点的深度值相等，则将该待校正像素点的第二像素值除以所述第一校正参数，得到校正后的图像。

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