恭喜布鲁克·道尔顿有限及两合公司安德里亚斯·哈泽获国家专利权
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龙图腾网恭喜布鲁克·道尔顿有限及两合公司申请的专利用于分析测量样品支架上样品材料的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115472486B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210655429.9，技术领域涉及：H01J49/04；该发明授权用于分析测量样品支架上样品材料的方法是由安德里亚斯·哈泽设计研发完成，并于2022-06-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于分析测量样品支架上样品材料的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种用于分析测量沉积在样品支架表面上的样品材料的方法，包括：a在表面上定义多个区域，其中一些区域与样品材料接触，b1使用解吸束在一个区域上对样品区段进行采样以产生解吸分子，这些解吸分子被电离并转移到分析仪，b2通过改变光束相对于表面的定向设置沿着该区域上从多个预定义的非直线轨迹中选出的非直线轨迹扫过该区域，同时将支架保持在一个位置，c使用样品支架的空间调节装置从扫过的区域过渡到下一个要扫过的区域，以及d重复步骤b1，b2和c直到满足预定的终止条件。本发明还涉及一种用于分析离子的系统，其具有离子发生装置和控制单元。
本发明授权用于分析测量样品支架上样品材料的方法在权利要求书中公布了：1.用于分析测量沉积在样品支架表面上的样品材料的方法，所述方法包括以下步骤：a在样品支架表面上定义多个区域，其中一些区域与样品材料接触，b1使用解吸束在一个区域上对样品区段进行采样以产生解吸分子，这些解吸分子被电离并转移到分析仪，b2通过改变解吸束相对于样品支架表面的定向设置沿着该区域上从多个预定义的非直线轨迹中选出的一个非直线轨迹扫过该区域，同时将样品支架保持在一个位置，c使用样品支架的空间调节装置从一个扫过的区域过渡到下一个要扫过的区域，以及d重复步骤b1，b2和c直到满足预定的终止条件，其中，步骤b2中的区域可以在解吸束相对于样品支架表面的第一定向和最后定向之间被扫过，其中在步骤c中的每次过渡之后，下一个区域的扫描分别从解吸束的最后定向开始。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人布鲁克·道尔顿有限及两合公司，其通讯地址为：德国不来梅；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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