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龙图腾网恭喜中国科学院大连化学物理研究所申请的专利一种中红外凸面衍射光栅工作距的测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115165322B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210848416.3，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种中红外凸面衍射光栅工作距的测量装置是由王元虎;多丽萍;金玉奇;曹靖;李国富;于海军;李留成;唐书凯;汪健;王增强;周冬建设计研发完成，并于2022-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种中红外凸面衍射光栅工作距的测量装置在说明书摘要公布了：本发明涉及衍射元件测量技术领域，特别涉及一种中红外凸面衍射光栅工作距的测量装置。该装置包括沿光路依次设置的半导体激光器、偏振器件、准直扩束光学组件、凹面标准镜、平面刮刀镜、待测凸面光栅、聚焦光学组件及CCD相机：其中半导体激光器发射的可见测量激光经过偏振器件后变为线偏振光；线偏振光经过准直扩束光学组件输出扩束光，再经过凹面标准镜和平面刮刀镜的中心孔照射到待测凸面光栅上，衍射光沿原光路返回依次经过凹面标准镜和平面刮刀镜的反射聚焦光学组件内，聚焦光束再照射到CCD相机中。本发明通过测量凹面标准镜和待测凸面光栅的间距，获得待测凸面光栅的工作距，测量简单、直观。

本发明授权一种中红外凸面衍射光栅工作距的测量装置在权利要求书中公布了：1.一种中红外凸面衍射光栅工作距的测量装置，其特征在于，包括沿光路依次设置的半导体激光器（1）、偏振器件、准直扩束光学组件、凹面标准镜（9）、平面刮刀镜（10）、待测凸面光栅（11）、聚焦光学组件及CCD相机（14），其中半导体激光器（1）发射的可见测量激光经过偏振器件变为线偏振光，再经过准直扩束光学组件输出扩束光，扩束光依次经过凹面标准镜（9）和平面刮刀镜（10）的中心孔照射到待测凸面光栅（11）上，经待测凸面光栅（11）衍射后，衍射光沿原光路返回，再次穿过平面刮刀镜（10）的中心孔后照射到凹面标准镜（9）的反射面上，经凹面标准镜（9）和平面刮刀镜（10）的反射面反射，反射光经聚焦光学组件聚焦后照射到CCD相机（14）中；通过沿入射光光轴的方向移动所述凹面标准镜（9），计量所述CCD相机（14）像面上光斑像素的数量；当光斑形状为圆形且像素数量达到最小时，所述待测凸面光栅（11）的虚焦点与所述凹面标准镜（9）的焦点重合，而所述凹面标准镜（9）的中心与所述待测凸面光栅（11）的中心之间的距离为L，则有： f 2 =f 1-L其中，f1为凹面标准镜（9）的焦距，f2为待测凸面光栅（11）的工作距。

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