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龙图腾网恭喜深圳中国计量科学研究院技术创新研究院;中国计量科学研究院申请的专利一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119354334B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411918112.5，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法是由徐英莹;王鹏飞;李博文;马秋辰;陈赤;祁玉林设计研发完成，并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法在说明书摘要公布了：本发明属于光学校准技术领域，本发明提供了一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法，包括：基于比对偏差程度值ZXj生成测量异常信号，获取异常信号出现次数占比BJ，生成波长偏移疑似信号，根据偏移判定值CV将测量光谱曲线标记为异常测量光谱曲线，获取异常测量光谱曲线数量占比值JK，并确定波长是否发生偏移，基于对数据点的传输数据进行分析，得到数据点传输波动参数FG，判断高光谱成像仪对标准光源进行测量的过程中的数据点传输稳定性，获取时段重合程度值AS，将时段重合程度值AS与时段重合程度阈值进行比较，根据比较结果确定波长偏移的原因是否为数据点传输稳定性差，本发明提高了高光谱成像仪光谱校准效率。

本发明授权一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法在权利要求书中公布了：1.一种高光谱成像仪光谱校准的光学校正方法，其特征在于：包括：步骤一：利用高光谱成像仪对标准光源进行多次测量，并获取每次测量时的测量数据，基于测量数据得到比对偏差数据，其中，测量数据包括波长点的测量值，比对偏差数据包括比对偏差程度值ZXj，若比对偏差程度值ZXj大于等于比对偏差程度阈值，生成测量异常信号，获取异常信号出现次数占比BJ，根据异常信号出现次数占比BJ生成波长偏移疑似信号；步骤二：基于生成的波长偏移疑似信号，获取多次测量时得到的多条光谱曲线，并分别与标准光谱曲线进行比较分析，得到偏移判定数据，其中，偏移判定数据包括偏移判定值CV，根据偏移判定值CV将测量光谱曲线标记为异常测量光谱曲线，获取异常测量光谱曲线数量占比值JK，并根据异常测量光谱曲线数量占比值JK确定波长是否发生偏移，并生成偏移信号；步骤三：基于偏移信号，获取数据点的传输时间数据，其中，数据点的传输时间数据包括数据点的传输时间点，基于对数据点的传输数据进行分析，得到目标时间段的数量占比和目标时间段的时间偏差比，将二者进行乘积处理，得到数据点传输波动参数FG，根据数据点传输波动参数FG判断高光谱成像仪对标准光源进行测量的过程中的数据点传输稳定性；将数据点按照传输时间点进行顺序排列，提取数据点之间的间隔时间长度，将出现次数的最多的间隔时间长度标记为参照时间长度，将与参照时间长度不匹配的间隔时间长度所对应的间隔时间段标记为目标时间段，将所有目标时间段对应的间隔时间长度分别与参照时间长度进行差值处理，并将差值在取绝对值后进行求和，得到目标时间段的时间偏差值，所述目标时间段的时间偏差比为目标时间段时间偏差值与参照时间长度的比值；步骤四：获取异常测量光谱曲线对应的检测时段，将异常测量光谱曲线对应的检测时段与目标时间段进行比对分析，根据比对分析结果对异常测量光谱曲线进行分类，基于对分类后异常测量光谱曲线进行分析，得到时段重合程度值AS，将时段重合程度值AS与时段重合程度阈值进行比较，根据比较结果确定波长偏移的原因是否为数据点传输稳定性差。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳中国计量科学研究院技术创新研究院;中国计量科学研究院，其通讯地址为：518000 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区光侨路高科创新中心B栋4楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。