恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所余达获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利探测器高光性能的评估系统及评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115127782B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210756887.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权探测器高光性能的评估系统及评估方法是由余达;刘金国;魏君成;孔德柱;周磊;张艳鹏;王梦莹设计研发完成，并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本探测器高光性能的评估系统及评估方法在说明书摘要公布了：探测器高光性能的评估系统及评估方法，涉及一种探测器高光性能的评估方法，解决现有方法进行高光性能检测过程中，当入射光能量增加到所有探测器都饱和时，进一步增加光强后无法检测出图像是否出现异常的问题，为此，在探测器应用前对探测器的高光性能进行测试，评估在轨成像效果，可减小潜在的损失，提高在轨的观测效率。本发明提出基于方向性光源、带黑白图案的滚筒进行探测器的高光性能评估，利用滚筒进行目标的时刻变化，从而可以进行目标亮暗分区的边界进行判断，避免使用积分球在强光目标下所有的像素均进入饱和状态，掩盖了可能出现的拖尾、高光溢出等现象。
本发明授权探测器高光性能的评估系统及评估方法在权利要求书中公布了：1.探测器高光性能的评估系统，该系统包括镜头，成像单元，快视地检设备和相机控制器；其特征是：还包括滚筒和方向性光源组；与所述成像单元匹配的镜头光轴与滚筒中轴垂直，方向性光源组分布在成像单元的侧方，其照明的区域覆盖镜头与滚筒相对的镜头中轴位置；所述方向性光源组输出的可调节光，照射到能够双向转动的滚筒上，所述滚筒上的目标图案经镜头后，投射到探测器的成像单元；所述相机控制器经422串口对成像单元进行成像参数的设置和摄像开始与结束的控制；所述成像单元输出的图像，传送至快视地检设备进行解析处理，进行最佳调焦位置和最佳行频的判定。
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