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龙图腾网恭喜合肥工业大学申请的专利一种基于表面形貌特征的平面二维位移测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115164700B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210904179.8，技术领域涉及：G01B7/02；该发明授权一种基于表面形貌特征的平面二维位移测量方法是由胡鹏浩;欧阳凯;张紧;杨龙设计研发完成，并于2022-07-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于表面形貌特征的平面二维位移测量方法在说明书摘要公布了：本发明属于线性位移测量技术领域，特别涉及一种基于表面形貌特征的平面二维位移测量方法，包括基尺和测量尺，基尺具有二维区域特异性的表面形貌特征，测量尺包括基体和传感器阵列，传感器阵列通过基体固定并保持传感器间相对位置不变；测量尺与基尺平行正对布置且存在间隙，采用传感器阵列对基尺的表面形貌特征进行探测；测量尺与基尺之间发生相对二维移动时，传感器阵列输出信号随之变化，针对传感器阵列的输出信号通过学习和训练建立神经网络模型，采用神经网络模型确定测量尺和基尺之间的相对二维位移量，实现平面二维位移测量；本发明较大程度上降低了加工工艺要求，减小了加工工艺对测量精度的影响，具有高精度、高稳健性等测量优势。

本发明授权一种基于表面形貌特征的平面二维位移测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于表面形貌特征的平面二维位移测量方法，包括基尺和测量尺，其特征在于，所述基尺具有二维区域特异性的表面形貌特征，所述测量尺包括基体和传感器阵列，所述的传感器阵列通过所述基体固定并保持传感器间相对位置不变；所述的测量尺与所述基尺平行正对布置且存在间隙，采用所述传感器阵列对所述基尺的表面形貌特征进行探测；所述测量尺与基尺之间发生相对二维移动时，所述传感器阵列输出信号随之变化，针对所述传感器阵列的输出信号通过学习和训练建立神经网络模型，采用神经网络模型确定测量尺和基尺之间的相对二维位移量，实现平面二维位移测量；所述基尺的材料是金属或非金属，且其表面形貌特征是在机械加工后所具有的表面粗糙度、波纹度特征；所述传感器阵列是电涡流粗糙度传感器或光纤粗糙度传感器。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥工业大学，其通讯地址为：230000 安徽省合肥市屯溪路193号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。