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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于链表处理的平面光学系统仿真分析方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114818315B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210431936.4，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权基于链表处理的平面光学系统仿真分析方法及设备是由孔令胜;严树峰;郭俊达;吕宝林设计研发完成，并于2022-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于链表处理的平面光学系统仿真分析方法及设备在说明书摘要公布了：本发明实施例中提供的基于链表处理的平面光学系统仿真分析方法，通过链表方式记录光在平面光学系统表面的接触点坐标，对平面光学系统的仿真，简化成对链表的处理，能够快速准确地得到平面光学系统的仿真结果。采用多链表的方式，能够对平面光学系统表面的不同区域进行区分并完成独立的优化设计，通过链表的连接就能够完成整体区域的优化设计。本发明相对于非序列的光线追迹算法具有计算量小、仿真速度快、不需要考虑能量阈值等优点。本发明实施例中还提供一种计算机设备。

本发明授权基于链表处理的平面光学系统仿真分析方法及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于链表处理的平面光学系统仿真分析方法，其特征在于，包括：通过链表方式记录光在平面光学系统表面的接触点坐标得到链表记录，所述链表记录中至少包括参数输入和坐标记录；对所述链表记录进行链表处理得到所述平面光学系统的优化和分析数据；所述通过链表方式记录光在平面光学系统表面的接触点坐标得到链表记录，所述链表记录中至少包括参数输入和坐标记录，包括：所述参数输入的步骤：所述参数输入至少包含所述平面光学系统参数的输入、光源参数的输入以及入射信息参数的输入，其中，所述平面光学系统参数包含基础几何尺寸、材料类型，所述光源参数至少包含光束的波长、直径、偏振、和角度，所述入射信息参数至少包含入射点的位置坐标和入射空间的介质类型；坐标记录的步骤：对于入射光进入衍射光波导之后的传播角度，由以下耦入光栅的光栅方程确定： 其中kx和ky分别光束波矢在x轴和y轴上的投影长度，mx和my为x和y方向的衍射级次，和为耦入光栅x和y方向的周期；所述通过链表方式记录光在平面光学系统表面的接触点坐标得到链表记录，包括：对衍射光波导的各个区域进行链表记录，对每个光栅区域的衍射点坐标建立一张链表，所述链表之间存在空间上的关联，通过在一张链表的表头节点指向另一张链表的节点。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，其通讯地址为：130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。