买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于差分共焦系统的测量方法及其测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115420197B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211156460.4，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权基于差分共焦系统的测量方法及其测量装置是由王廷煜;王之一;王建立;杨禹凯;糜小涛;杨永强设计研发完成，并于2022-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于差分共焦系统的测量方法及其测量装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于差分共焦系统的测量方法及其测量装置，测量方法通过驱动物镜定位器沿光轴方向移动，以带动物镜进行移动，并对物镜定位器的位移数据、焦前光电探测器和焦后光电探测器的光强度数据进行采样，对数据进行分析，获取待测物的位置信息。本发明提供的方法在通过聚焦误差信号进行测距时，对于一个待测点的测量只需要将物镜驱动一次，同时采集物镜位移数据、焦前光电探测器和焦后光电探测器的光强度数据，即可通过对采集数据做差分处理，利用最小二乘法对差分信号线性区域进行线性拟合，提取过零点位置对应物镜定位器位置作为测距信息，避免了现有技术中在获取差动共焦响应曲线的过零点出现误差，就会对测距的结果产生影响。

本发明授权基于差分共焦系统的测量方法及其测量装置在权利要求书中公布了：1.一种基于差分共焦系统的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、驱动物镜定位器沿光轴方向移动，以带动所述物镜进行移动，并对所述物镜定位器的位移数据、焦前光电探测器和焦后光电探测器的光强度数据进行采样；其中，所述位移数据表示为d：{d1,d2,...,dq}；所述焦前光电探测器光强度数据表示为a：{a1、a2...aq}；所述焦后光电探测器光强度数据表示为b{b1、b2...bq}；S2、对所述位移数据、所述焦前光电探测器和所述焦后光电探测器的光强度数据进行分析，获取待测物的位置信息；S201、将所述焦前光电探测器的光强数据与所述焦后光电探测器的光强数据作差，获取聚焦误差信号f：{f1、f2...fq}；其中，q为采样的次数；S202、获取所述聚焦误差信号中的第m个数据和第n个数据；其中，所述第m个数据为最大值fm，所述第n个数据为最小值fn；S203、获取所述聚焦误差信号中的第m+n-m4到第n-n-m4组数据，两组数据分别表示为：d：{dm+n-m4,...,dn-n-m4}和f：{fm+n-m4,...,fn-n-m4}；S204、通过所述两组数据进行拟合，获取拟合函数f＝c1×d+c2，分别求得拟合函数的系数c1、c2；其中，拟合函数的系数公式表示为公式1： 其中，i表示第i个采样点；c1表示拟合函数的斜率；c2表示拟合函数的截距；S205、根据求得的所述系数，获取所述待测物的位置信息；其中所述位置信息表示为公式2：l＝-c2c12其中，l表示位置信息。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，其通讯地址为：130033 吉林省长春市东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。