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龙图腾网恭喜中山远实微科技有限公司申请的专利一种芯片以及芯片自修复方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111459726B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910101916.9，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种芯片以及芯片自修复方法是由吴炜滨设计研发完成，并于2019-01-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片以及芯片自修复方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片自修复方法，所述芯片的电路模块包括易失性存储器、非易失性存储器、检测修复模块，所述自修复方法包括：给所述芯片上电；在所述芯片上电后，检测是否有检测到数据异常信号和或检测到逻辑异常信号，当检测修复模块检测到所述数据异常信号和或检测到所述逻辑异常信号发生时；所述检测修复模块读取所述非易失性存储器中的数据更新到易失性存储器数据中。解决了现有技术因为电池意外松动而引起的芯片损坏的技术问题。

本发明授权一种芯片以及芯片自修复方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片自修复方法，其特征在于，应用于粉盒打印过程中成像装置给芯片上电时，所述芯片的电路模块包括上电稳定信号检测模块、易失性存储器、非易失性存储器、检测修复模块，所述非易失性存储器上的固定地址预置有稳定标记数据，所述自修复方法包括： 给所述芯片上电； 所述上电稳定信号检测模块读取所述非易失性存储器的固定地址里的数据，当正确读取到固定地址预置的所述稳定标记数据时，向所述检测修复模块输出上电稳定检测信号，否则延时一段时间后继续读取固定地址预置的所述稳定标记数据； 所述检测修复模块检测所述上电稳定检测信号，若检测到所述上电稳定信号，则检测所述易失性存储器的数据异常信号； 若检测到所述易失性存储器的所述数据异常信号，则读取所述非易失性存储器中的数据并更新到所述易失性存储器的数据中，修复所述易失性存储器的数据；若未检测到所述易失性存储器的所述数据异常信号，则检测所述易失性存储器的逻辑异常信号；其中，通过检测高电平和低电平确定所述易失性存储器的数据是否异常，所述低电平对应所述易失性存储器的数据异常； 若检测到所述易失性存储器的所述逻辑异常信号，则读取所述非易失性存储器中的数据更新到所述易失性存储器数据中，修复所述易失性存储器的数据；若未检测到所述易失性存储器的所述逻辑异常信号，则结束检测修复。

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