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龙图腾网恭喜宁波九纵智能科技有限公司申请的专利用于QFN芯片的自动光学检测设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115709179B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211385180.0，技术领域涉及：B07C5/342；该发明授权用于QFN芯片的自动光学检测设备是由王孟哲;梁正南;赖勉力;李恩全设计研发完成，并于2022-11-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于QFN芯片的自动光学检测设备在说明书摘要公布了：本发明涉及QFN芯片检测技术领域，具体地说，公开了一种用于QFN芯片的自动光学检测设备，其包括检测设备本体，检测设备本体包括上料部、第一检测工位、第二检测工位以及下料部；上料部用于QFN芯片输送至第一检测工位，第一检测工位用于对QFN芯片进行初步检测并将QFN芯片输送至第二检测工位，第二检测工位用于对第一检测工位检测出的存在缺陷的QFN芯片进行再次检测；第二检测工位还用于将QFN芯片输送至下料部处，下料部用于对QFN芯片进行收集。本发明避免了对每个QFN芯片进行二次检测，从而较佳的提升了对于QFN芯片的检测效率，同时也实现对于存在缺陷的QFN芯片的详细检测，提升了对于QFN芯片检测效果。

本发明授权用于QFN芯片的自动光学检测设备在权利要求书中公布了：1.用于QFN芯片的自动光学检测设备，其特征在于：包括检测设备本体（100），检测设备本体（100）包括上料部（210）、第一检测工位（220）、第二检测工位（230）以及下料部（240）；上料部（210）用于QFN芯片输送至第一检测工位（220），第一检测工位（220）用于对QFN芯片进行初步检测并将QFN芯片输送至第二检测工位（230），第二检测工位（230）用于对第一检测工位（220）检测出的存在缺陷的QFN芯片进行再次检测；第二检测工位（230）还用于将QFN芯片输送至下料部（240）处，下料部（240）用于对QFN芯片进行收集；第一检测工位（220）包括设置于检测设备本体（100）处的且用于对QFN芯片进行检测的第一检测模块（530），第一检测模块（530）包括线扫描相机单元（710）以及线激光相机单元（720）；第一检测工位（220）还包括直线电机模块（540），直线电机模块（540）处设有用于放置QFN芯片的放置平台（810），直线电机模块（540）用于将放置平台（810）处的QFN芯片输送至第一检测模块（530）处；第二检测工位（230）包括设置于检测设备本体（100）处的且用于对QFN芯片进行检测的第二检测模块（550），第二检测模块（550）包括面阵相机单元（910）；第二检测模块（550）还包括第四皮带输送机构（560），第四皮带输送机构（560）包括2个平行设置的安装板（1010），所述2个平行设置的安装板（1010）之间设有用于将QFN芯片输送至面阵相机单元（910）处的第四输送皮带（1020）；检测设备本体（100）设有用于将第一检测工位（220）处的QFN芯片输送至第四皮带输送机构（560）的第二搬运机构（570），第二搬运机构（570）包括设置于第四皮带输送机构（560）上端部的第二手指气缸（1110），第二手指气缸（1110）处设有用于QFN芯片进行夹持的第二夹持板（1120），检测设备本体（100）处设有位于第四皮带输送机构（560）处的第二安装架（1130），第二安装架（1130）处设有驱动第二手指气缸（1110）沿水平方向移动的第三丝杆驱动模组（1140），第三丝杆驱动模组（1140）的滑块处设有用于与第二手指气缸（1110）相连接且用于驱动第二手指气缸（1110）沿竖直方向移动的第三双轴气缸（1150）。

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