恭喜华电(烟台)功率半导体技术研究院有限公司邓二平获国家专利权
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龙图腾网恭喜华电(烟台)功率半导体技术研究院有限公司申请的专利一种针对共漏极MOSFET模块的功率循环测试电路获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116203375B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310255684.9,技术领域涉及:G01R31/26;该发明授权一种针对共漏极MOSFET模块的功率循环测试电路是由邓二平;潘茂杨;赵辉;赵雨山;黄永章设计研发完成,并于2023-03-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种针对共漏极MOSFET模块的功率循环测试电路在说明书摘要公布了:本发明公开了一种针对共漏极MOSFET模块的功率循环测试电路,属于半导体技术领域,包括一级控制IGBT和待测器件,所述待测器件的一端连接一级控制IGBT,一级控制IGBT的另一端连接负载电流源IL,还包括二级控制IGBT,二级控制IGBT的一端连接待测器件的另一端,二级控制IGBT的另一端连接负载电流源IL的另一端。本发明针对共漏极MOSFET模块的功率循环测试电路适用性强、能满足特殊器件类型的测试要求、可靠性高。
本发明授权一种针对共漏极MOSFET模块的功率循环测试电路在权利要求书中公布了:1.一种针对共漏极MOSFET模块的功率循环测试电路,包括一级控制IGBT和待测器件,所述待测器件的一端连接一级控制IGBT,一级控制IGBT的另一端连接负载电流源IL,其特征在于,还包括二级控制IGBT,二级控制IGBT的一端连接待测器件的另一端,二级控制IGBT的另一端连接负载电流源IL的另一端;所述一级控制IGBT包含三个并联连接的IGBT,待测器件上桥臂的三个器件分别连接一级控制IGBT中三个IGBT的源极;所述二级控制IGBT包含三个并联连接的IGBT,待测器件下桥臂的三个器件分别连接二级控制IGBT中三个IGBT的漏极;每条支路的一级控制IGBT和二级控制IGBT共用栅极信号;每条支路上的待测器件上、下桥臂的两个器件共用栅极信号。
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