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恭喜宁波百世伟业印务有限公司林建红获国家专利权

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龙图腾网恭喜宁波百世伟业印务有限公司申请的专利一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法、介质、设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119164960B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411671386.9,技术领域涉及:G01N21/88;该发明授权一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法、介质、设备是由林建红;王建伟;蒋燕;徐旭东;张辉;刘英;杨兰设计研发完成,并于2024-11-21向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法、介质、设备在说明书摘要公布了:本发明为一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法,包括如下步骤:获取待测瓦楞纸正反面图像,记为第一图像和第二图像,根据第一图像和第二图像定位压痕缺陷特征;S200、定位压痕缺陷特征后,移动线阵CCD相机至待测压痕缺陷特征上方,采集压痕缺陷图像,对压痕缺陷特征图像进行二值化处理,提取标准图像质心阵列,比对点阵的偏移量和偏转角并确定压痕缺陷特征的凹凸方向;S300、根据压痕缺陷特征的凹凸方向以及瓦楞纸的结构建立瓦楞纸的三维模型,并进行有限元分析获取其抗压强度。本发明通过获取待测瓦楞纸正反两面的图像,定位压痕缺陷特征后获取压痕缺陷特征图像并对其进行二值化处理得到标准图像质心阵列,得出了一套完整的瓦楞纸表面压痕质量检测方法。

本发明授权一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法、介质、设备在权利要求书中公布了:1.一种基于压痕的瓦楞纸质量检测方法,其特征在于,包括如下步骤:S100,获取待测瓦楞纸正反面图像,分别记为第一图像和第二图像,根据第一图像和第二图像定位压痕缺陷特征;S200、定位压痕缺陷特征后,移动拍摄系统中的线阵CCD相机至待测压痕缺陷特征的上方,并在被测压痕缺陷特征的斜上方放置光源,并采集压痕缺陷图像,并对压痕缺陷特征图像进行二值化处理,提取标准图像质心阵列,比对点阵的偏移量和偏转角并确定压痕缺陷特征的凹凸方向;S300、根据压痕缺陷特征的凹凸方向以及瓦楞纸的结构建立瓦楞纸的三维模型,并进行有限元分析获取其抗压强度,确定该抗压强度是否在合格范围内,若在合格范围内,则判定为合格品;其中步骤S100中,定位压痕缺陷特征时,包括以下步骤:S101、对第一图像和第二图像进行灰度化处理,获取灰度区域内的最大区域面积,并统计灰度区域最大面积10%以上的连通区域数量,对连通区域进行集合标注,并计算最大区域的灰度值MAX;S102、根据压痕缺陷特征差值将灰度面积进行连通,连通方法为:若连通区域的灰度值大于灰度图像最大的灰度值MAX,则保留该连通区域;若连通区域的灰度值小于灰度图像最大的灰度值MAX,则进行以下判断,计算该连通区域中心与其他连通区域中心的距离{D1,D2,D3,D4,Dn-1},其中n为连通区域的数量,若{D1,D2,D3,D4,Dn-1}中存在小于L3的数值,则保留该连通区域,否则,去除该连通区域,其中L为灰度区域最大面积区域的长度;S103、输出结果图,并根据结果图上保留的连通区域数量确定压痕缺陷位置;其中还包括获取无压痕缺陷特征的标准图像,并提取标准图像质心阵列,同时对光斑所在区域的压痕缺陷特征的二值图进行扫描并保存坐标,并计算质心坐标,则质心坐标为:Xc=x1+x2+x3+…xNNYc=y1+y2+y3+…yNN;其中,x1、x2、xN分别为光源投射到压痕缺陷特征表面的第一个、第二个到第N个光斑质心的横坐标;Xc为二值图的质心横坐标;y1、y2、yN分别为光源投射到压痕缺陷特征表面的第一个、第二个到第N个光斑质心的纵坐标;Yc为二值图的质心纵坐标;提取出质心之后根据标准图像计算出被测压痕缺陷各点相对于标准图像标准值的偏移量和偏向角度,被测点与标准图像标准点间的偏移距离用欧氏距离计算,其公式如下: ; ;其中,x11、x21、xi1分别为第一个、第二个到第n个被测点的质心横坐标;x12、x22、xi2分别为第一个、第二个直到第n个标准理想点的质心横坐标;Dx为横坐标理想值与被测值偏移量的欧式距离;y11、y21、yi1分别为第一个、第二个到第n个被测点的质心纵坐标;y12、y22、yi2分别为第一个、第二个到第n个标准理想点的质心纵坐标;Dy为纵坐标理想值与被测值偏移量的欧式距离;经过理想点和偏移点的直线与x轴的夹角为偏向角,则偏向角θ=arctanDyDx。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人宁波百世伟业印务有限公司,其通讯地址为:315000 浙江省宁波市江北区江北大道20弄200号1-4幢1楼;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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