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龙图腾网恭喜北京众谱达科技有限公司申请的专利一种复杂磁场干扰下无线电设备误差校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119276391B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411797371.7，技术领域涉及：H04B17/11；该发明授权一种复杂磁场干扰下无线电设备误差校准方法是由崔彬达;毕景姣设计研发完成，并于2024-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种复杂磁场干扰下无线电设备误差校准方法在说明书摘要公布了：本发明涉及无线电设备误差校准技术领域，具体涉及一种复杂磁场干扰下无线电设备误差校准方法，包括以下步骤：S1，磁场干扰检测：实时检测无线电设备周围的磁场强度和方向，记录磁场数据；S2，干扰源定位：定位磁场干扰源的位置和强度；S3，干扰模型构建：构建磁场干扰模型；S4，误差分析与校准：动态校正因复杂磁场干扰引起的误差；S5，误差校准：实时校正因复杂磁场干扰引起的误差；S6，校准效果评估：验证校准效果；S7，自适应校准：自适应调整校准非线性校准模型的参数。本发明，为误差校准提供了准确且可靠的基础数据，有助于提升整体校准系统的性能和有效性。

本发明授权一种复杂磁场干扰下无线电设备误差校准方法在权利要求书中公布了：1.一种复杂磁场干扰下无线电设备误差校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，磁场干扰检测：利用磁场传感器实时检测无线电设备周围的磁场强度和方向，记录磁场数据；S2，干扰源定位：根据磁场数据，通过多点数据融合算法定位磁场干扰源的位置和强度；S3，干扰模型构建：基于检测到的磁场数据和磁场干扰源的位置和强度，构建磁场干扰模型，包括静态干扰和动态干扰两种类型；S4，误差分析与校准：分析磁场干扰对无线电设备性能参数产生的误差，生成非线性校准模型，动态校正因复杂磁场干扰引起的误差，具体包括：S41，误差特征分析：利用构建的磁场干扰模型，分析磁场干扰对无线电设备的性能参数产生的误差，性能参数包括频率、相位以及幅度，并通过仿真和实验数据，获取不同干扰条件下的误差分布和特征；S42，数据预处理：收集历史磁场数据和性能参数进行预处理，包括数据清洗和归一化处理；S43，模型生成：利用预处理后的历史磁场数据和性能参数，生成非线性校准模型，所述非线性校准模型采用递归神经网络模型；S44，校准策略设计：根据不同类型的磁场干扰，设计对应的校准策略，并结合实时检测的磁场数据，优化非线性校准模型，具体包括：S441，识别干扰类型：根据实时检测的磁场数据，区分静态干扰和动态干扰；S442，静态干扰校准策略设计：对于静态干扰，设干扰强度和位置固定，利用构建的静态干扰模型进行校准；S443，动态干扰校准策略设计：对于动态干扰，设干扰强度和位置随时间变化，利用粒子滤波算法实时更新动态干扰模型，并进行校准；S444，校准策略优化：结合实时检测的磁场数据，动态调整静态和动态干扰的校准参数，优化非线性校准模型，表示为： ；其中，是优化后的时间的校准参数，为时间的校准参数，为学习率，为校准参数的梯度，为损失函数；S5，误差校准：将非线性校准模型应用于无线电设备，实时校正因复杂磁场干扰引起的误差；S6，校准效果评估：通过测试信号和实地测量，对校准后无线电设备的性能进行评估，验证校准效果；S7，自适应校准：根据实时检测的磁场变化情况，自适应调整校准非线性校准模型的参数。

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