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龙图腾网恭喜哈尔滨工业大学(深圳)申请的专利热导测量装置、系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113008929B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110196255.X，技术领域涉及：G01N25/18；该发明授权热导测量装置、系统及方法是由何阳;孙华锐;张亮辉设计研发完成，并于2021-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本热导测量装置、系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及热导测量设备技术领域，提供一种热导测量装置、系统及方法，上述热导测量装置包括激光发生器、光路组件、非相干光源、入射光纤、接收光纤和光电探测器，激光发生器通过光路组件向微纳薄膜材料投射加热激光且在微纳薄膜材料上形成第一光斑，非相干光源通过入射光纤向微纳薄膜材料投射探测光且在微纳薄膜材料上形成与第一光斑相重合的第二光斑，探测光经微纳薄膜材料反射形成第一反射光，光电探测器通过接收光纤接收第一反射光，由于探测光为非相干光，有效避免探测光产生干涉效应，有效提高热导测量装置的测量精度；通过入射光纤和接收光纤分别实现对探测光的投射和对第一反射光的接收，有效简化光路结构，提高可操作性。

本发明授权热导测量装置、系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种热导测量装置，其特征在于：所述热导测量装置包括激光发生器、光路组件、非相干光源、入射光纤、接收光纤和光电探测器，所述非相干光源为单色LED光源，所述激光发生器通过所述光路组件向微纳薄膜材料投射加热激光且在所述微纳薄膜材料上形成第一光斑，所述非相干光源通过所述入射光纤向所述微纳薄膜材料垂直投射探测光且在所述微纳薄膜材料上形成与所述第一光斑相重合的第二光斑，所述探测光经所述微纳薄膜材料垂直反射形成第一反射光，所述光电探测器通过所述接收光纤接收所述第一反射光；所述加热激光的投射方向与所述探测光的投射方向相交设置，所述加热激光到达微纳薄膜材料的表面后反射形成第二反射光，所述第二反射光与所述探测光不重合。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人哈尔滨工业大学(深圳)，其通讯地址为：518000 广东省深圳市南山区桃源街道深圳大学城哈尔滨工业大学校区；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。