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龙图腾网恭喜华南师范大学申请的专利基于空间共定位掩模过滤的超分辨SIM-FRET图像重建方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114913065B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210332681.6，技术领域涉及：G06F17/00；该发明授权基于空间共定位掩模过滤的超分辨SIM-FRET图像重建方法是由陈同生;罗泽伟设计研发完成，并于2022-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于空间共定位掩模过滤的超分辨SIM-FRET图像重建方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于空间共定位掩模过滤的超分辨SIM‑FRET图像重建方法，本发明采用统一的维纳重建参数进行FRET三通道SR‑SIM线性维纳重建，该重建方法可以最大程度保持原始图像荧光强度的线性关系进而满足FRET计算荧光强度的保真度的要求；进一步的本发明实现了一种空间共定位掩模生成方法，其可有针对性地过滤去除SR‑SIM线性维纳重建的随机噪声伪像带来的FRET假阳性信号，同时保留具有超分辨精细结构的FRET信号，进而实现FERT的定量超分辨检测。

本发明授权基于空间共定位掩模过滤的超分辨SIM-FRET图像重建方法在权利要求书中公布了：1.基于空间共定位掩模过滤的超分辨SIM-FRET图像重建方法，其特征在于，包括下述步骤：获取经过结构光调制的FRET三通道原始图像数据组；所述FRET三通道包括供体激发供体发射通道DD、受体激发受体发射通道DA以及供体激发受体发射通道AA；基于统一维纳重建参数进行FRET三通道结构光超分辨线性维纳重建，得到FRET三通道超分辨图像数据，具体为：对FRET三通道原始图像组通过统一维纳重建参数进行结构光超分辨线性维纳重建，得到FRET三通道超分辨图像数据： ；其中，为FRET通道X相应图像的傅里叶变换；k为荧光图像像素转化到频域的坐标，为FRET通道X相应结构光方向角θ下的初相位，为FRET通道X相应结构光方向角θ下的调制深度，为FRET通道X相应结构光方向角θ下的空间频率，为SR-SIM系统的光学传递函数，表示FRET通道X对应SR-SIM系统的光学传递函数在频域空间按照空间频率矢量和进行频谱搬移，、分别表示的共轭，通道X包括供体激发供体发射通道DD、受体激发受体发射通道DA以及供体激发受体发射通道AA；w为重建维纳参数，为高斯型切趾函数，iFFT为图像的反傅里叶变换；对FRET三通道超分辨图像进行数据对齐处理；对FRET三通道超分辨图像进行扣背景处理；根据DD、AA通道FRET区域图像的强相关特性生成空间共定位掩模版，并根据空间共定位掩模版去除FRET假阳性信号；将去除FRET假阳性信号的超分辨图像进行FRET效率和供受体浓度比的测量。

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