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龙图腾网恭喜中山火炬职业技术学院;珠海海奇半导体有限公司申请的专利一种视频解码芯片SLT方法及测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115672792B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211391702.8，技术领域涉及：B07C5/344；该发明授权一种视频解码芯片SLT方法及测试装置是由丁锐;曾亚森;虞尚智;周奇;杨立宏;郑木彬设计研发完成，并于2022-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种视频解码芯片SLT方法及测试装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种视频解码芯片SLT方法及测试装置，包括如下步骤：桌面测试机初始化；桌面测试机从托盘上自动吸取芯片后放到测试座中；核心测试板通电；进行开短路测试并比对结果；进行模拟IP测试并比对结果；进行系统应用测试并比对结果；测试架完成测试，给测试机发送测试信号；桌面测试机根据信号将芯片进行分类，所述测试装置包括桌面型测试机和核心测试板，所述桌面型测试机用于取放以及分选芯片，所述桌面型测试机用于控制所述核心测试板的电源以及获取核心测试板的反馈结果，该方法降低了芯片板级测试难度，缩短了测试时间，且通过采用机器进行数据比对，能够及时发现人眼无法判别的瑕疵，减低成本的同时能够较好的扩充产能。

本发明授权一种视频解码芯片SLT方法及测试装置在权利要求书中公布了：1.一种视频解码芯片SLT方法，其特征在于，包括如下步骤：桌面测试机初始化；桌面测试机从托盘上自动吸取芯片后放到测试座中；核心测试板通电；进行开短路测试并比对结果；进行模拟IP测试并比对结果；进行系统应用测试并比对结果；测试架完成测试，给测试机发送测试信号；桌面测试机根据信号将芯片进行分类；在进行开短路测试并比对结果的步骤中，所述开短路测试包括如下步骤：判断IO口数量是否为偶数个，若是，则在核心测试板上将通用IO口分为数量相等的两组第一组和第二组，将第一组和第二组的通用IO口在核心测试板上一一相连；第一阶段控制第一组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第二组通用IO口读回来进行判定；控制第一组通用IO口输出高电平，再从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；控制第一组通用IO口输出低电平，再从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；第二阶段控制第二组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第一组通用IO口读回来进行判定；控制第二组通用IO口输出高电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；控制第二组通用IO口输出低电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；若IO口数量为奇数个，则在核心测试板上将通用IO口分为数量相等的两组第一组和第二组之后，将第一组和第二组的通用IO口在核心测试板上一一相连，剩余的一个独立IO口执行如下步骤：剩下的一个独立IO口输出接到一个锁存器芯片的输入，第一组的任意一个IO接到锁存器芯片的输出控制OE端，锁存器芯片的锁存使能端LE直接接到电源上，使得锁存使能一直有效，锁存器输出控制OE端为1时，锁存器输出高阻态，不驱动总线，锁存器输出控制OE端为0时，锁存器输出锁存后的数据；第一阶段控制第一组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第二组通用IO口读回来进行判定，独立IO口输出高电平给锁存器锁存后再切换为输入把锁存器输出读回来进行判定，具体步骤如下：控制第一组通用IO口输出高电平，锁存器输出控制OE端为1，锁存器输出高阻态；控制独立IO输出高电平，同时从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；控制第一组通用IO口输出低电平，锁存器输出控制OE端为0，锁存器输出锁存的独立IO状态，接下来控制独立IO切换为输入，判断锁存器输出的独立IO状态是否为高电平，如是则继续，否则判定为坏片；从第二组的通用IO口读回来第一组的输出，判断是否为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；控制独立IO输出低电平，控制第一组通用IO口输出低电平，锁存器输出控制OE端为0，锁存器输出锁存的独立IO状态，接下来控制独立IO切换为输入，判断是否为低电平，如是则进入下一步，否则判定为坏片；第二阶段控制第二组通用IO口分别输出高电平和低电平，从第一组通用IO口读回来进行判定；控制第二组通用IO口输出高电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为高电平，如全部为高电平进行下一步，否则判定为坏片；控制第二组通用IO口输出低电平，再从第一组的通用IO口读回来第二组的输出，判断是否都为低电平，如全部为低电平进行下一步，否则判定为坏片；完成开短路测试，进入下一功能测试。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中山火炬职业技术学院;珠海海奇半导体有限公司，其通讯地址为：528400 广东省中山市火炬开发区中山港大道60号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。