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龙图腾网恭喜友达光电(昆山)有限公司;友达光电股份有限公司申请的专利显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116818767B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310602218.3，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置是由陈熠;黄冠纶设计研发完成，并于2023-05-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置，该检测方法包含：获取当前显示面板的缺陷点分布图像；对该缺陷点分布图像进行DBSCAN聚类处理，判断是否存在聚集区域；至少将该聚集区域划分为第一数量个子区域，根据每一子区域内的缺陷点得到对应每一子区域的聚集参数，判断每一子区域的聚集参数是否大于第一预设值并存储该缺陷点分布图像；记录聚集参数大于该第一预设值的子区域为当前感兴趣区域，将该当前感兴趣区域的缺陷点特征与过往感兴趣区域的缺陷点特征进行比对得到该当前感兴趣区域的相似参数，判断该相似参数是否大于第二预设值；通报出现相似的聚集性缺陷。本发明可提高检测准确性的同时，实现对聚集性缺陷类型的归纳整理。

本发明授权显示面板聚集性缺陷的检测方法及检测装置在权利要求书中公布了：1.一种显示面板聚集性缺陷的检测方法，其特征在于，该检测方法包含：步骤A：获取当前显示面板的缺陷点分布图像，该缺陷点分布图像上分布有至少一类缺陷的缺陷点；步骤B：对该缺陷点分布图像进行DBSCAN聚类处理，根据预设的聚集条件判断该缺陷点分布图像上针对该至少一类缺陷是否存在聚集区域，若是，则执行步骤C；步骤C：至少将该聚集区域划分为第一数量个子区域，根据每一子区域内的该至少一类缺陷的缺陷点得到对应每一子区域的聚集参数，判断每一子区域的聚集参数是否大于第一预设值，若是，则存储缺陷点分布图像，执行步骤D；步骤D：记录聚集参数大于该第一预设值的子区域位置并定义为当前感兴趣区域，将该当前感兴趣区域的缺陷点特征与过往存储的缺陷点分布图像所对应的过往感兴趣区域的缺陷点特征进行比对，得到该当前感兴趣区域的相似参数，判断该相似参数是否大于第二预设值，若是，则执行步骤E；步骤E：通报出现相似的聚集性缺陷；其中，该聚集参数包含第一参数及第二参数，该第一参数为该每一子区域内的缺陷点数量，该第二参数为该每一子区域内的该缺陷点数量与对应子区域的面积之比。

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