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龙图腾网恭喜深圳市耐斯特自动化设备有限公司申请的专利光模块芯片自动测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119198023B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411704679.2，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权光模块芯片自动测试方法是由刘大梓;段蜜;谢丰;韩硕设计研发完成，并于2024-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本光模块芯片自动测试方法在说明书摘要公布了：本申请公开的属于光模块测试技术领域，具体为光模块芯片自动测试方法，包括以下步骤：S1，输送机构将料盘输送至吸盘下方，气缸夹爪动作夹住料盘并对料盘进行固定，三轴移动平台带动吸盘下降并对料盘中的光模块芯片进行吸附，然后带动光模块芯片上升并移动到相机的上方；通过采用多相机识别光模块位置信息，并实时同步调节光模块的角度和方位，可以确保光模块在测试过程中的位置精确对准，消除因位置偏移导致的误差，使光模块和光纤连接器的对接更加精确，从而提高光信号的耦合效率，减少光信号的损耗和反射。这能显著提高光功率（TXRX）的测试精度，还可以保证每次测试中的光模块位置精确一致，减少了位置偏移带来的测试波动。

本发明授权光模块芯片自动测试方法在权利要求书中公布了：1.光模块芯片自动测试方法，其特征在于：包括以下步骤：S1，输送机构将料盘输送至吸盘下方，气缸夹爪动作夹住料盘并对料盘进行固定，三轴移动平台带动吸盘下降并对料盘中的光模块芯片进行吸附，然后带动光模块芯片上升并移动到相机的上方，通过相机对光模块芯片的位置进行检测，判断吸盘上光模块芯片位置是否出现偏移；S2，吸盘将光模块芯片移动到翻面机构的板体上，板体上吸嘴吸住光模块芯片，再控制翻面机构的电机工作带动板体转动，板体转动带动光模块芯片翻面，吸盘再对翻面后的光模块芯片吸取并放到移位机构的转盘上；S3，移位机构带动光模块芯片移动到测试相机的下方，通过测试相机对光模块芯片进行检测，判断移位机构上光模块芯片位置是否出现偏移，如果出现偏移的情况下对光模块芯片进行调节使光模块芯片角度与正确测试角度一致；S4，将光纤连接器通过光纤与光源和光功率计相连，并将光纤连接器固接在轴向移动机构的移动端，通过轴向移动机构带动光纤连接器移动并将光纤连接器插入光模块芯片的接口中，通过光源向光模块芯片中输入光信号模拟实际工作条件下的信号传输，光模块芯片发射出一定波长和功率的光信号，光信号通过光纤传输到光功率计的接收端，光功率计对光模块芯片的光功率进行测试；所述S1中当相机检测到光模块芯片位置出现偏移时，通过电机带动吸盘转动，对光模块芯片的方位进行调节，所述电机固接在三轴移动平台的Z轴升降端上，且电机的输出轴与吸盘相连；所述S3中的移位机构为X轴向移动平台，所述S3中当测试相机检测到移位机构上的光模块芯片位置出现偏移时，通过固接在移位机构移动端内部的电机带动转盘转动，实现对光模块芯片方向的调节。

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