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龙图腾网恭喜苏州和迈精密仪器有限公司申请的专利一种根据直接化学发光荧光光谱理论模型计算整体荧光强度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114544568B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210040893.7，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种根据直接化学发光荧光光谱理论模型计算整体荧光强度的方法是由蒋凯;张涛;汤亚伟;高少佳设计研发完成，并于2022-01-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种根据直接化学发光荧光光谱理论模型计算整体荧光强度的方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种直接化学发光荧光光谱理论模型，模型如下：由于激发液不同喷射速度、角度导致的多次检测误差CV变异性，本发明将其从原来的5％减小到1％。

本发明授权一种根据直接化学发光荧光光谱理论模型计算整体荧光强度的方法在权利要求书中公布了：1.一种根据直接化学发光荧光光谱理论模型计算整体荧光强度的方法，其特征在于：模型如下： 推导方法如下：1以液体扩散及发光的模型进行分析推导，设某一时刻荧光信号强度为： 其中t为测量时间点，τA为荧光物质的衰减系数常数，I0为受激发初始荧光信号强度；2I0t信号和这时刻的发光底物浓度成正比关系，和这一时刻检测窗口面积内激发液体积也成正比关系，进一步推导公式如下：I0t＝K1·C底物·V激t；其中C底物为待求解的浓度，在溶液中是均匀分布的，而V激为这时刻扩散到荧光检测窗口位置的激发液体积，激发液是最后加入的反应试剂，在检测杯中有个扩散过程，激发液瞬时体积满足扩散方程如下： 其中C0为初始加入的激发液浓度，τB扩散过程系数，A为检测窗口的面积，Vt为该时刻到达该区域的液体流速；为简化模型，假设Vt为一个恒定流速常量K2，则上述公式可以简化为： 3将上述公式进行整合，即可得到以下模型： 其中K1、K2、τA、τB为检测环境相关的恒定系数，C0为初始加入的激发液浓度；4简化以上公式，可以得到： 其中，K＝K1·A·K2·C0，τ＝τA+τB；5在C底物恒定条件下，相同量的激发液，发出的荧光总能量是固定的，收集所有荧光信号是一个常数值，即得荧光信号总能量与C底物浓度成正相关比例，最终获得直接化学发光荧光光谱理论模型： 所述参数K和参数τ为不同的系数，荧光信号采集是一个离散采样过程，从荧光信号上升开始计算起始位置点，根据前50个荧光信号采集数值，采用拟合迭代算法，计算参数K和参数τ，并将每次计算的理论值和离散采样的真实值的相关系数R达到0.99以上，停止迭代，并将得到的参数K和参数τ计算理论值。

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